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產(chǎn)品中心臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析澤攸臺(tái)式掃描電鏡澤攸ZEM20臺(tái)式掃描電子顯微鏡
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澤攸ZEM20臺(tái)式掃描電子顯微鏡操作簡(jiǎn)便，僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)光闌。
產(chǎn)品分類
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澤攸ZEM20臺(tái)式掃描電子顯微鏡鏡操作簡(jiǎn)便，僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)光闌。
信號(hào)采集帶寬高達(dá)10M，掃描速度快，視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品。
豐富的原位拓展功能，可兼容自研原位電鏡附件（拉伸樣品臺(tái)、加熱臺(tái)、TEC冷臺(tái)等）。
技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品特點(diǎn)
▲ 真空分隔技術(shù) ：采用獨(dú)*真空設(shè)計(jì)，電子槍和樣品倉(cāng)真空分離，換樣時(shí)間小于1min。
▲ 超大樣品倉(cāng)：提供了更大的樣品存儲(chǔ)空間，方便用戶操作。
▲ 超高分辨率：極限放大倍數(shù)達(dá)到36萬(wàn)倍，分辨率4nm@20kV。
▲ 標(biāo)配減速模式：允許弱導(dǎo)電樣品在不噴金的情況下進(jìn)行觀察。
▲ 倉(cāng)內(nèi)攝像頭：樣品倉(cāng)內(nèi)置高清攝像頭，原位實(shí)驗(yàn)時(shí)可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)樣品原位變化。
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