澤攸 ST800 臺階儀集成了接觸式與非接觸式測量功能，通過智能化控制系統，為復雜樣品的測量提供全面解決方案。澤攸 集成化的臺階測量方案
接觸式測量范圍 0 - 800μm，垂直分辨率 0.05nm；非接觸式光學傳感器采用白光干涉原理，測量范圍 0 - 100μm，垂直分辨率 0.1nm，兩種模式可無縫切換，兼顧深臺階與精細表面的測量需求。
設備工作臺采用氣浮設計，運動平穩無摩擦，X/Y 行程 200mm，定位精度 5μm，支持自動樣品定位與多點測量。軟件具備圖像拼接功能，可將多個測量區域的形貌圖拼接成完整的樣品表面形貌，便于整體分析。
用材上，關鍵部件如導軌、絲杠等選用進口高精度產品，確保設備的長期穩定性。使用說明中詳細介紹了自動測量流程：通過相機定位樣品特征，軟件規劃測量路徑，自動完成多個點的測量并生成綜合報告。適用于精密儀器制造中的表面質量檢測、高校科研中的材料表征等場景，為用戶提供高效、全面的測量支持。澤攸 集成化的臺階測量方案
使用時，將樣品固定在工作臺上，調整觸針位置使其輕觸樣品表面，設置掃描速度（0.1 - 1mm/s）和掃描長度后啟動測量。適用于薄膜厚度檢測、涂層臺階分析等場景，如半導體晶圓的鍍膜厚度測量，為生產質量控制提供數據支持。
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