在材料科學、生物醫學與納米技術快速發展的今天，科研人員對微觀形貌分析的需求愈發迫切。澤攸科技推出的ZEM15C臺式掃描電鏡，憑借其緊湊設計與高性能表現，成為實驗室與工業現場的理想觀測工具。

產品細節與性能亮點

ZEM15C采用預對中鎢燈絲技術，無需復雜的光闌對中操作，開機后僅需2分鐘即可進入高真空狀態，實現快速成像。設備配備四分割背散射探測器（BSE）與二次電子探測器（SE），支持多種成像模式，可清晰呈現樣品表面形貌與成分差異。其分辨率優于10納米，放大倍數達15萬倍，能夠捕捉從納米顆粒到細胞結構的微觀細節。

核心用材與結構設計

設備主體采用高強度鋁合金框架，搭配陶瓷真空腔體，有效降低熱漂移對成像的影響。樣品臺采用步進電機驅動，移動重復性高，支持25毫米×25毫米范圍內的精準定位。電子光學系統集成一體式聚光鏡，優化了電子束的聚焦效率，同時降低能耗。

參數表與型號對比

ZEM系列還包含ZEM18與ZEM20型號，后者支持36萬倍極限放大與4nm分辨率，適合對成像質量要求更高的研究場景。

典型應用場景

• 材料科學：分析金屬斷裂面、陶瓷晶界或高分子復合材料的相分離現象。

• 生物醫學：觀察細胞表面微絨毛結構或組織切片中的納米級病變特征。

• 半導體檢測：定位芯片表面的污染物顆粒或評估光刻膠的均勻性。

操作指南與維護建議

1. 樣品準備：非導電樣品需噴金或碳涂層以消除電荷積累。

2. 成像流程：通過觸摸屏設置加速電壓與工作距離，啟動“自動聚焦"功能后，利用“消像散"工具優化圖像清晰度。

3. 日常維護：每月清理樣品室灰塵，每季度檢查真空泵油位，確保設備長期穩定運行。

ZEM15C以“即插即用"的設計理念，降低了掃描電鏡的使用門檻，成為高校教學、企業質檢與科研探索的得力助手。