澤攸科技ZEM15臺式掃描電鏡的價值，不僅在于其緊湊的體型，更在于其集成的技術為日常的微區分析提供的支持。它試圖在桌面設備的便捷性與傳統電鏡的部分性能之間找到平衡，滿足工業質檢和學術研究中對效率的部分要求。

ZEM15的技術內涵體現在其光學系統和探測系統上。冷場發射電子槍提供了較小的電子源尺寸和較高的亮度，這是獲得較高分辨率圖像的基礎。電磁透鏡組負責將電子束聚焦并掃描在樣品表面。其內置的半導體背散射電子探測器對原子序數差異敏感，可用于快速區分樣品中不同成分的區域；二次電子探測器則對樣品表面形貌起伏敏感，能呈現豐富的三維立體細節。兩種信號的可同時采集與顯示，為用戶分析樣品提供了多維信息。

在操作性能上，ZEM15的自動化程度是一個特點。系統通常具備自動真空控制、自動燈絲加熱、甚至部分型號支持自動樣品臺驅動和圖像拼接功能。這些設計減少了人工操作步驟，降低了操作復雜性，使新手經過基本培訓后也能獨立完成常規觀察。軟件的圖形化界面將參數調節、圖像采集、測量分析功能集成在一起，流程清晰直觀。

在樣品適應性方面，其五軸馬達樣品臺允許用戶在不破壞真空的情況下，對樣品進行多角度的移動、傾斜和旋轉，便于從優良角度觀察感興趣的區域。針對常見的荷電問題，用戶可通過選擇較低的加速電壓、采用低真空模式（若配備）或對非導電樣品進行適當預處理來應對。

操作流程簡述：

1. 樣品制備： 確保樣品尺寸合規，非導電樣品需進行導電處理（如噴金）。

2. 樣品加載： 打開樣品室，使用專用工具將樣品座穩妥放置于樣品臺上，關閉樣品室。

3. 開始抽真空： 在軟件上點擊“開始抽真空"，系統自動完成抽真空過程。

4. 條件設置： 真空就緒后，選擇加速電壓（常用5-15kV）、探針電流和工作距離。

5. 尋找與聚焦： 使用低倍數尋找感興趣區域，逐步放大，并調節焦距和像散，獲得清晰圖像。

6. 圖像采集： 調整對比度和亮度，選擇合適的掃描速度和圖像積分次數，采集并保存圖片。

7. 分析測量： 利用軟件工具進行顆粒度分析、孔徑測量或能譜成分分析（若配備EDS）。