澤攸ZEM15:智能同步分析的實用工具
ZEM15 臺式掃描電鏡能譜一體機不僅實現了形貌觀察與成分分析的物理集成,其搭載的智能分析系統更是讓同步分析過程更高效、數據更精準,在多個領域的實際應用中展現出顯著優勢,是科研和檢測工作中智能同步分析的實用工具。
智能分析功能:提升效率與數據價值
ZEM15 配備的智能操作軟件整合了電鏡控制與能譜分析功能,支持一鍵式分析流程。當觀察到感興趣的微觀形貌區域時,只需點擊軟件中的 “智能分析" 按鈕,系統便會自動調整電子束參數、優化能譜探測器設置,并完成譜圖采集與初步解析,整個過程無需手動反復調試,大幅縮短了從觀察到分析的間隔時間。
軟件的自動成分識別功能實用性較強,能根據采集到的能譜數據,自動匹配元素數據庫,標記出主要元素的特征峰,并生成半定量的元素含量報表。對于復合材料中常見的相分離結構,軟件的 “區域自動劃分" 功能可通過形貌差異與成分分布的關聯,自動識別不同物相區域并統計其面積占比,為材料均勻性分析提供量化依據。
數據可視化模塊支持多種展示方式,能將元素分布與微觀形貌疊加顯示,生成彩色元素面分布圖,直觀呈現不同元素在樣品表面的空間分布規律。同時,軟件支持數據的批量處理,可對多個樣品的分析結果進行匯總對比,生成統一格式的分析報告,便于科研人員進行數據歸納和成果展示。
設備的遠程控制功能為多場景應用提供便利,通過專用客戶端連接電腦或平板,可在實驗室外監控分析過程、調取實時數據,尤其適合需要長時間連續分析的實驗,減少了操作人員在設備旁的等待時間。
實際應用案例:多領域的同步分析支持
在材料科學實驗室,研究人員利用 ZEM15 分析新型合金涂層的微觀結構與成分分布。通過電鏡觀察到涂層表面存在不同形態的顆粒,啟動智能分析功能后,能譜數據顯示這些顆粒主要為 Cr、Ni 元素富集區,而基體部分則以 Fe 元素為主。結合元素面分布圖,清晰發現 Cr-Ni 顆粒呈彌散分布,且尺寸在 2-5μm 之間,這一結果為優化涂層制備工藝、提升其耐腐蝕性能提供了關鍵依據。
地質勘探領域,某團隊使用 ZEM15 對巖石薄片中的礦物組成進行分析。在觀察到巖石中存在的細小包裹體時,通過同步能譜分析快速確定包裹體成分為碳酸鹽礦物,而周圍基質則富含硅酸鹽礦物。軟件的自動定量分析功能計算出兩者的含量比例,為研究巖石形成時的地質環境提供了微觀尺度的證據,助力理解礦物的形成演化過程。
電子器件質檢環節,ZEM15 被用于檢測芯片引線鍵合處的失效原因。電鏡觀察發現鍵合點存在異常凸起,同步能譜分析顯示凸起區域含有較高的 O 元素,結合形貌特征判斷為氧化產物。進一步通過線掃描分析,發現氧化層從表面向內部逐漸擴散,元素分布曲線清晰呈現了 O 元素與金屬元素的濃度變化梯度,為改進鍵合工藝、提高器件可靠性提供了直接數據。
環境監測中,科研人員借助 ZEM15 分析大氣細顆粒物的形貌與來源。觀察到顆粒物存在球形、不規則形等多種形態,通過能譜分析識別出球形顆粒主要含 Si、Al 元素(可能來自土壤揚塵),而不規則顆粒則富含 S、N 元素(可能與工業排放相關)。智能軟件對不同類型顆粒的統計分析,為追溯污染來源、制定防控措施提供了科學支持。
維護保養要點:保障設備長期穩定運行
做好 ZEM15 的維護保養工作,是確保其長期穩定發揮同步分析能力的關鍵。日常使用后,需及時清潔樣品室和樣品臺,可用專用軟毛刷清除殘留的樣品碎屑,再用沾有無水乙醇的無塵布擦拭表面,避免污染物堆積影響真空度或污染電子光學系統。
能譜探測器的保護尤為重要,應避免樣品與探測器窗口直接接觸,防止窗口破損。每次更換樣品時,需檢查探測器窗口是否有灰塵附著,若有可用專用氣吹輕輕吹除,切勿用擦拭物直接接觸窗口,以免劃傷超薄鈹窗。長期不使用設備時,應蓋上樣品室防塵蓋,防止灰塵進入探測器區域。
電子槍燈絲的維護需注意使用規范,避免頻繁開關電子槍或在高束流下長時間工作,以延長燈絲使用壽命。當觀察到圖像亮度明顯下降、分辨率降低,或能譜分析中元素峰位出現異常偏移時,可能是燈絲老化所致,應按照說明書步驟及時更換,更換過程需關閉設備電源并確保真空系統已泄壓。
真空系統的維護需定期進行,每周檢查機械泵油的油位和油質,油位低于刻度線時及時補充同型號真空泵油,油質變渾濁或乳化時需更換。每月檢查真空管路的連接接口,確保密封墊圈完好,若發現抽真空時間明顯延長,需排查是否存在漏氣點并及時處理。
軟件系統也需定期維護,建議每季度檢查網站是否有軟件更新,及時安裝最新版本以優化分析功能和系統穩定性。同時,定期備份設備中的分析數據,防止因存儲故障導致數據丟失。
ZEM15 臺式掃描電鏡能譜一體機憑借智能同步分析功能、在多領域的實際應用價值以及明確的維護保養要點,為微觀形貌與成分的關聯分析提供了高效解決方案,助力科研和檢測工作更精準、更高效地開展。
澤攸ZEM15:智能同步分析的實用工具