一、核心附件類型與適配場景
（一）光學(xué)類附件：拓展觀察能力
該附件為 200X 高倍物鏡，數(shù)值孔徑（NA）1.25，適配進(jìn)階款 DSX1000，主要用于納米級(jí)結(jié)構(gòu)觀察（如 10-100nm 的材料顆粒、芯片納米線）。使用時(shí)需搭配 immersion oil（奧林巴斯專用浸沒油，型號(hào) OIL-01），滴加 1-2 滴浸沒油于物鏡與樣品之間，減少光線折射損失，提升成像清晰度。在觀察納米薄膜厚度時(shí)，200X 物鏡配合 DIC 觀察方式，可清晰呈現(xiàn)薄膜的層間結(jié)構(gòu)，通過軟件 “Z 軸測(cè)量" 工具，厚度測(cè)量誤差可控制在 ±0.01μm 以內(nèi)。需注意：使用后需立即用鏡頭紙蘸取專用清潔劑（型號(hào) CLN-02）擦拭物鏡鏡片，去除殘留浸沒油，避免污染鏡片。
偏振光附件包含起偏器與檢偏器，可安裝在光源與鏡筒之間，適用于透明晶體、礦物薄片等樣本的觀察。在地質(zhì)礦物鑒定中，安裝偏振光附件后，調(diào)整起偏器與檢偏器角度（0°-90°），可觀察礦物的消光現(xiàn)象（如石英的平行消光、長石的斜消光），輔助區(qū)分礦物種類；在高分子材料研究中，通過偏振光觀察可分析材料的結(jié)晶度，結(jié)晶區(qū)域會(huì)呈現(xiàn)明暗交替的干涉條紋，通過軟件 “灰度值分析" 工具可統(tǒng)計(jì)結(jié)晶區(qū)域面積占比。該附件安裝無需拆卸設(shè)備原有部件，通過卡扣結(jié)構(gòu)固定，操作便捷，且支持與明場、暗場、DIC 等觀察方式組合使用。
（二）樣品臺(tái)類附件：適配特殊樣本
自動(dòng)樣品臺(tái)（型號(hào) ST-A100）
自動(dòng)樣品臺(tái)替代原有手動(dòng)樣品臺(tái)，支持 X/Y 軸自動(dòng)移動(dòng)（行程 100mm×80mm）、Z 軸自動(dòng)對(duì)焦，移動(dòng)精度達(dá) 0.001mm，適配需要批量檢測(cè)或大面積掃描的場景（如 PCB 板多區(qū)域檢測(cè)、晶圓缺陷篩查）。在電子元件批量檢測(cè)中，通過軟件 “自動(dòng)檢測(cè)" 功能設(shè)置檢測(cè)點(diǎn)位（最多可預(yù)設(shè) 100 個(gè)點(diǎn)位），設(shè)備可自動(dòng)移動(dòng)至每個(gè)點(diǎn)位，采集圖像并判斷是否存在缺陷（如引腳變形、焊點(diǎn)空洞），檢測(cè)完成后生成缺陷統(tǒng)計(jì)報(bào)告，大幅提升檢測(cè)效率。自動(dòng)樣品臺(tái)支持與圖像拼接功能聯(lián)動(dòng)，可自動(dòng)采集多個(gè)相鄰區(qū)域圖像，合成大面積全景圖像（如 200mm×150mm 的 PCB 板全景圖），且拼接差≤0.1mm。
真空樣品臺(tái)（型號(hào) ST-V50）
真空樣品臺(tái)通過負(fù)壓吸附固定樣本，適用于輕薄、易變形的樣本（如薄膜、金屬箔片）。在薄膜材料觀察中，將薄膜樣本平鋪在樣品臺(tái)吸附區(qū)域（面積 50mm×50mm），開啟真空泵（真空度可達(dá) - 0.08MPa），樣本會(huì)被緊密吸附在臺(tái)面上，避免觀察過程中樣本褶皺或移位；在觀察金屬箔片表面劃痕時(shí)，真空吸附可確保箔片表面平整，通過 100X 物鏡觀察，劃痕細(xì)節(jié)（寬度≥0.01mm）清晰可見。該附件配備獨(dú)立真空控制模塊，可通過軟件調(diào)整真空度，適配不同厚度的樣本（薄樣本用低真空度，厚樣本用高真空度），且吸附區(qū)域可更換不同尺寸的密封圈（直徑 30mm、50mm），滿足不同大小樣本的需求。
（三）檢測(cè)分析類附件：提升數(shù)據(jù)精度
顯微硬度計(jì)附件（型號(hào) HM-50）
顯微硬度計(jì)附件可安裝在設(shè)備側(cè)面，與顯微鏡光學(xué)系統(tǒng)同軸，適用于材料表面硬度檢測(cè)（如金屬、陶瓷、半導(dǎo)體）。在金屬材料硬度測(cè)試中，通過顯微鏡定位測(cè)試點(diǎn)位后，硬度計(jì)施加一定載荷（10g-1000g 可調(diào)），在樣本表面壓出菱形壓痕，隨后切換回顯微鏡觀察模式，用 100X 物鏡測(cè)量壓痕對(duì)角線長度，軟件根據(jù)壓痕尺寸自動(dòng)計(jì)算硬度值（HV 或 HRC 硬度單位），測(cè)試誤差≤5%。該附件無需單獨(dú)校準(zhǔn)，與顯微鏡共用同一光學(xué)系統(tǒng)，確保測(cè)試點(diǎn)位與觀察點(diǎn)位一致，且支持硬度值數(shù)據(jù)與圖像關(guān)聯(lián)保存，便于后續(xù)追溯。
能譜儀接口附件為能譜儀（EDS）提供安裝接口，實(shí)現(xiàn) “形貌觀察 + 成分分析" 一體化（需搭配奧林巴斯或第三方能譜儀使用）。在材料成分分析中，通過顯微鏡觀察定位感興趣區(qū)域（如金屬中的雜質(zhì)顆粒、復(fù)合材料中的增強(qiáng)相），啟動(dòng)能譜儀進(jìn)行成分分析，可獲得該區(qū)域的元素組成（如 Fe、Cu、Al 等）及含量占比，分析結(jié)果可直接疊加在顯微鏡圖像上，直觀展示元素分布與形貌的關(guān)聯(lián)；在環(huán)境污染物分析中，對(duì)大氣顆粒物進(jìn)行能譜分析，可判斷顆粒物是否含重金屬元素（如 Pb、Cr），為污染物來源追蹤提供依據(jù)。該附件安裝需專業(yè)人員操作，接口密封性能良好，避免真空泄漏影響能譜分析精度。
二、軟件擴(kuò)展功能：豐富數(shù)據(jù)處理能力
（一）高級(jí)分析模塊（型號(hào) AN-20）
高級(jí)分析模塊為 Image-Pro Analyzer 軟件的擴(kuò)展插件，包含顆粒分析、紋理分析、3D 重建等功能，適用于科研與精密檢測(cè)場景。在顆粒材料研究中，顆粒分析功能可自動(dòng)識(shí)別圖像中的顆粒（支持圓形、不規(guī)則形顆粒），統(tǒng)計(jì)顆粒數(shù)量、粒徑分布、圓形度等參數(shù)（粒徑測(cè)量范圍 0.1μm-1mm），并生成粒徑分布直方圖與累計(jì)分布曲線，支持導(dǎo)出 Excel 或 Origin 格式數(shù)據(jù)；在材料表面紋理分析中，通過紋理分析功能計(jì)算表面粗糙度參數(shù)（如 Ra、Rz，符合 ISO 4287 標(biāo)準(zhǔn)），無需額外使用粗糙度儀，且分析結(jié)果與傳統(tǒng)粗糙度儀測(cè)試誤差≤10%。
3D 重建功能可將不同焦平面的圖像合成為 3D 模型，支持旋轉(zhuǎn)、縮放查看，在機(jī)械零件檢測(cè)中，通過 3D 模型可直觀觀察零件的立體結(jié)構(gòu)（如臺(tái)階高度、溝槽深度），通過軟件 “3D 測(cè)量" 工具可測(cè)量任意兩點(diǎn)間的三維距離、角度，測(cè)量精度達(dá) 0.01μm。高級(jí)分析模塊通過軟件授權(quán)激活，無需硬件改裝，且支持免費(fèi)試用 30 天，用戶可根據(jù)需求決定是否購買。
（二）遠(yuǎn)程控制模塊（型號(hào) RC-30）
遠(yuǎn)程控制模塊支持通過局域網(wǎng)或互聯(lián)網(wǎng)遠(yuǎn)程操作設(shè)備，適用于多地點(diǎn)協(xié)作或無人值守場景（如實(shí)驗(yàn)室與車間遠(yuǎn)程協(xié)作、夜間自動(dòng)檢測(cè)）。在跨地點(diǎn)協(xié)作中，遠(yuǎn)程客戶端（支持 Windows、Android 系統(tǒng)）可實(shí)時(shí)查看設(shè)備成像畫面，控制樣品臺(tái)移動(dòng)、參數(shù)調(diào)整、圖像采集，且支持多人同時(shí)在線查看（最多 5 人），便于團(tuán)隊(duì)討論分析；在無人值守檢測(cè)中，通過遠(yuǎn)程控制模塊設(shè)置檢測(cè)任務(wù)（如定時(shí)采集圖像、自動(dòng)分析數(shù)據(jù)），設(shè)備可在預(yù)設(shè)時(shí)間啟動(dòng)任務(wù)，檢測(cè)完成后將數(shù)據(jù)與報(bào)告發(fā)送至指定郵箱，減少人工值守成本。遠(yuǎn)程控制模塊采用加密傳輸協(xié)議，確保數(shù)據(jù)安全，且支持?jǐn)帱c(diǎn)續(xù)傳，避免網(wǎng)絡(luò)中斷導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失。
三、附件安裝與擴(kuò)展功能激活流程
（一）附件安裝步驟
光學(xué)類附件安裝：以高倍物鏡為例，先關(guān)閉設(shè)備電源，擰下原有物鏡，將高倍物鏡對(duì)準(zhǔn)接口螺紋，順時(shí)針輕輕擰動(dòng)直至貼合（避免用力過猛損壞螺紋），開機(jī)后在軟件 “物鏡設(shè)置" 中選擇 “200X 物鏡"，完成參數(shù)匹配；偏振光附件通過卡扣結(jié)構(gòu)固定在光源外側(cè)與鏡筒內(nèi)側(cè)，安裝后在軟件 “觀察方式" 中勾選 “偏振光"，即可啟用。
樣品臺(tái)類附件安裝：自動(dòng)樣品臺(tái)安裝需先拆卸原有手動(dòng)樣品臺(tái)（拆除固定螺絲），將自動(dòng)樣品臺(tái)對(duì)準(zhǔn)安裝孔，擰緊螺絲固定，連接控制線至設(shè)備主機(jī)，開機(jī)后通過軟件 “樣品臺(tái)校準(zhǔn)" 功能進(jìn)行移動(dòng)精度校準(zhǔn)（用標(biāo)準(zhǔn)刻度尺測(cè)量 X/Y 軸移動(dòng)距離，軟件自動(dòng)修正誤差）；真空樣品臺(tái)安裝無需拆卸原有樣品臺(tái)，通過支架固定在原有樣品臺(tái)上方，連接真空泵與控制線，軟件中選擇 “真空樣品臺(tái)" 模式，即可控制真空吸附。
檢測(cè)分析類附件安裝：顯微硬度計(jì)附件通過螺栓固定在設(shè)備側(cè)面，調(diào)整硬度計(jì)壓頭與顯微鏡光路同軸（通過軟件 “同軸校準(zhǔn)" 功能，觀察壓頭影像是否位于視野中心），連接數(shù)據(jù)線至主機(jī)，軟件中安裝硬度計(jì)驅(qū)動(dòng)后即可使用；能譜儀接口附件需拆卸設(shè)備側(cè)面蓋板，安裝接口模塊，連接能譜儀與主機(jī)，專業(yè)人員進(jìn)行真空密封與光路校準(zhǔn)后，軟件中啟用能譜分析功能。
（二）擴(kuò)展功能激活流程
高級(jí)分析模塊激活：從奧林巴斯下載高級(jí)分析模塊安裝包，安裝至設(shè)備電腦，打開軟件后點(diǎn)擊 “幫助"→“激活高級(jí)模塊"，輸入購買的授權(quán)碼，點(diǎn)擊 “激活"，系統(tǒng)驗(yàn)證通過后即可使用擴(kuò)展功能；若為試用版，輸入試用授權(quán)碼（可通過申請(qǐng)），試用期結(jié)束后需購買正式授權(quán)碼才能繼續(xù)使用。
遠(yuǎn)程控制模塊激活：在設(shè)備電腦上安裝遠(yuǎn)程控制服務(wù)器軟件，設(shè)置登錄賬號(hào)與密碼（支持權(quán)限分級(jí)，如管理員、操作員），在遠(yuǎn)程客戶端輸入設(shè)備 IP 地址與賬號(hào)密碼，連接成功后即可遠(yuǎn)程控制；若需互聯(lián)網(wǎng)遠(yuǎn)程控制，需在設(shè)備所在網(wǎng)絡(luò)中設(shè)置端口映射（由網(wǎng)絡(luò)管理員操作），確保遠(yuǎn)程客戶端可訪問設(shè)備 IP。
四、附件與擴(kuò)展功能的使用注意事項(xiàng)
兼容性檢查：購買附件前需確認(rèn)與 DSX1000 的兼容性（如高倍物鏡僅適配進(jìn)階款，自動(dòng)樣品臺(tái)支持所有型號(hào)），可通過奧林巴斯查詢附件兼容性列表，或咨詢售后人員，避免購買不兼容附件導(dǎo)致無法使用。
校準(zhǔn)與維護(hù)：帶有測(cè)量功能的附件（如顯微硬度計(jì)、自動(dòng)樣品臺(tái)）需定期校準(zhǔn)，顯微硬度計(jì)每季度用標(biāo)準(zhǔn)硬度塊（如 HV500 標(biāo)準(zhǔn)塊）校準(zhǔn)，自動(dòng)樣品臺(tái)每半年用標(biāo)準(zhǔn)刻度尺校準(zhǔn)移動(dòng)精度，校準(zhǔn)數(shù)據(jù)需記錄在維護(hù)檔案中，確保測(cè)量精度；能譜儀接口附件需每月檢查真空密封狀態(tài)，若真空度下降過快，需更換密封膠圈。
軟件更新：安裝新附件或擴(kuò)展功能后，需確保軟件為最新版本，舊版本軟件可能不支持新附件的功能（如舊版本軟件無法識(shí)別 200X 物鏡），可通過軟件 “檢查更新" 功能自動(dòng)更新，或從下載最新版本安裝包手動(dòng)更新，更新前需備份設(shè)備參數(shù)與數(shù)據(jù)，避免丟失。
通過搭配多樣化的附件與擴(kuò)展功能，DSX1000 的應(yīng)用范圍得到大幅拓展，既能滿足工業(yè)檢測(cè)的高效與精準(zhǔn)需求，也能適配科研領(lǐng)域的復(fù)雜分析場景，為用戶提供靈活、可定制的微觀觀察解決方案。奧林巴斯超景深顯微鏡附件系統(tǒng)及拓展功能
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