探秘澤攸ZEM20掃描顯微鏡核心技術解析

ZEM20掃描電鏡具備多項特色技術。其一，真空分隔設計實現了電子槍、樣品倉的獨立真空，避免了頻繁換樣對電子槍壽命的影響，同時提升了效率。其二，設備集成光學導航與艙內攝像頭，用戶可通過實時圖像精準定位樣品，并在原位實驗中監測動態變化。其三，采用一體式聚光鏡結構，無需手動調節光闌，所有操作均通過鼠標完成，降低了使用門檻。其四，信號采集帶寬達到10M，支持高速掃描與視頻模式實時觀察。此外，ZEM20還提供豐富的原位拓展功能，可兼容多種自研附件，如拉伸臺、加熱臺、冷臺等。這些特點使ZEM20在臺式電鏡中表現出較好的集成度與功能性

ZEM20掃描電鏡集成了多項創新技術，其中具特色的是其獨特的真空系統設計。該系統采用兩級真空結構，通過分子泵與機械泵的組合，實現了樣品室的快速抽真空能力。在標準工況下，從大氣壓狀態到可工作的高真空狀態僅需約3分鐘。這種快速抽真空能力使得設備特別適合需要頻繁更換樣品的科研環境。

另一個值得關注的技術特點是其電子光學系統。該系統采用三級電磁透鏡設計，配合可自動對中的光闌機構，確保了電子束的穩定性。電子光學系統的加速電壓可在1-20kV范圍內連續可調，束流大小通過軟件自動控制。設備還配備了獨特的減速模式功能，在該模式下，樣品臺可施加負偏壓，有效減緩入射電子能量，減少樣品充電效應，特別適用于觀察非導電樣品。

信號采集系統采用10MHz帶寬的前端放大電路，支持從慢掃描拍照到實時視頻觀察的多種工作模式。在視頻模式下，幀率最高可達25幀/秒，便于用戶實時觀察樣品動態變化或快速尋找感興趣區域。探秘澤攸ZEM20掃描顯微鏡核心技術解析