徠卡Visoria P工業(yè)質(zhì)檢的偏光觀察利器

產(chǎn)品簡介

徠卡Visoria P工業(yè)質(zhì)檢的偏光觀察利器
工業(yè)生產(chǎn)中，對材料偏光特性的檢測是把控產(chǎn)品質(zhì)量的重要環(huán)節(jié)，如塑料薄膜的均勻度、寶石加工的精度、金屬部件的應(yīng)力分布等，都需要可靠的偏光觀察工具支持。徠卡研究級偏光顯微鏡 Visoria P，憑借高效的檢測能力與穩(wěn)定的表現(xiàn)，適配工業(yè)質(zhì)檢的高頻、批量需求，成為生產(chǎn)線上的質(zhì)量把控助手。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-10-27

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光學(xué)顯微鏡

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徠卡Visoria P工業(yè)質(zhì)檢的偏光觀察利器在工業(yè)生產(chǎn)中，對材料偏光特性的檢測是把控產(chǎn)品質(zhì)量的重要環(huán)節(jié)，如塑料薄膜的均勻度、寶石加工的精度、金屬部件的應(yīng)力分布等，都需要可靠的偏光觀察工具支持。徠卡研究級偏光顯微鏡 Visoria P，憑借高效的檢測能力與穩(wěn)定的表現(xiàn)，適配工業(yè)質(zhì)檢的高頻、批量需求，成為生產(chǎn)線上的質(zhì)量把控助手。

產(chǎn)品細(xì)節(jié)上，Visoria P 針對工業(yè)質(zhì)檢場景優(yōu)化了操作流程，機(jī)身設(shè)有 “快速檢測模式" 按鍵，按下后設(shè)備會自動切換至預(yù)設(shè)的質(zhì)檢參數(shù)（如固定的光源亮度、偏光模式、物鏡倍率），無需工作人員每次手動調(diào)節(jié)，大幅縮短單一樣品的檢測時間。載物臺支持快速定位功能，配備刻度標(biāo)尺與定位標(biāo)記，工作人員可根據(jù)樣品尺寸預(yù)設(shè)檢測點位，放置樣品后快速對準(zhǔn)標(biāo)記，減少樣品調(diào)整時間。此外，設(shè)備可搭配工業(yè)級載物臺自動移動模塊（需額外配置），實現(xiàn)批量樣品的自動切換觀察，適合每日數(shù)百件樣品的檢測需求。

性能方面，Visoria P 的光學(xué)系統(tǒng)能清晰捕捉工業(yè)樣品的細(xì)微偏光差異，例如檢測塑料薄膜時，可通過偏光圖像觀察薄膜的分子取向均勻度，及時發(fā)現(xiàn)因生產(chǎn)工藝問題導(dǎo)致的局部取向異常；檢測寶石戒面時，能精準(zhǔn)呈現(xiàn)寶石內(nèi)部的包裹體與裂紋，輔助判斷加工精度。設(shè)備的成像穩(wěn)定性強(qiáng)，在連續(xù)檢測 200 件樣品后，成像清晰度與偏光識別效果無明顯變化，確保批量檢測結(jié)果的一致性。同時，設(shè)備支持與工業(yè)電腦對接，通過專用軟件實時記錄檢測數(shù)據(jù)（如樣品編號、檢測時間、偏光特征描述），便于后續(xù)質(zhì)量追溯與數(shù)據(jù)分析。

用材方面，考慮到工業(yè)環(huán)境可能存在的粉塵、輕微震動，Visoria P 的機(jī)身采用密封式設(shè)計，防塵等級達(dá) IP40，能有效防止粉塵進(jìn)入設(shè)備內(nèi)部影響光學(xué)部件；機(jī)身底部的減震墊采用高彈性橡膠材質(zhì)，可緩沖輕微震動對觀察的影響，適配車間或質(zhì)檢室的工作環(huán)境。載物臺臺面采用耐磨不銹鋼材質(zhì)，長期放置、移動樣品不易產(chǎn)生劃痕，保持臺面平整，確保樣品定位準(zhǔn)確。

基礎(chǔ)參數(shù)簡表

參數(shù)項	數(shù)值
快速檢測模式啟動時間	≤3 秒
載物臺定位精度	±0.1mm
連續(xù)檢測樣品上限（手動）	200 件（建議休息 10 分鐘）
防塵等級	IP40
數(shù)據(jù)記錄接口	RS232/USB 3.0
適配樣品尺寸（常規(guī)）	5mm×5mm-100mm×100mm

Visoria P 系列中，針對工業(yè)質(zhì)檢推出 “工業(yè)質(zhì)檢版"，除基礎(chǔ)檢測功能外，還包含專用的質(zhì)檢分析軟件（可自動識別常見缺陷，如薄膜氣泡、寶石裂紋）、樣品收納盒（可分類存放待檢與已檢樣品），以及耐用的工業(yè)級電源線（抗拉扯、防磨損）。定制版可根據(jù)特定行業(yè)需求，如高溫金屬部件檢測（搭配高溫載物臺）、微型電子元件檢測（搭配高倍率物鏡），進(jìn)行個性化配置，滿足細(xì)分領(lǐng)域的質(zhì)檢需求。

用途上，在塑料行業(yè)，Visoria P 可檢測塑料薄膜、板材的偏光均勻度，判斷生產(chǎn)過程中擠出、拉伸工藝是否穩(wěn)定；在珠寶加工行業(yè)，能檢測寶石成品的內(nèi)部質(zhì)量與表面拋光精度，確保產(chǎn)品符合質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)；在金屬制造行業(yè)，可通過偏光觀察金屬部件的應(yīng)力分布，輔助判斷部件是否存在潛在的結(jié)構(gòu)隱患；在電子行業(yè)，能觀察液晶顯示屏的偏光特性，檢測屏幕顯示效果的均勻性。

使用說明上，工業(yè)質(zhì)檢場景需注意以下操作要點：開啟設(shè)備后，先通過 “快速檢測模式" 選擇對應(yīng)產(chǎn)品的檢測參數(shù)（如檢測塑料薄膜選擇 “薄膜模式"，檢測寶石選擇 “寶石模式"）；將待檢樣品放在載物臺的定位標(biāo)記處，調(diào)節(jié)焦距至成像清晰，觀察樣品偏光特征并判斷是否合格；合格樣品放入 “已檢合格" 收納盒，不合格樣品標(biāo)記缺陷位置并記錄在軟件中；每檢測完一批樣品（建議 200 件），關(guān)閉設(shè)備休息 10 分鐘，同時清潔載物臺與物鏡表面的粉塵；定期（每月一次）檢查設(shè)備密封情況與減震墊狀態(tài)，若發(fā)現(xiàn)密封膠條老化或減震墊磨損，及時更換，確保設(shè)備在工業(yè)環(huán)境中穩(wěn)定運行。徠卡Visoria P工業(yè)質(zhì)檢的偏光觀察利器

上一個：徠卡Visoria P適配教學(xué)場景的偏光顯微鏡