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臺式電鏡&臺階儀&原位分析
澤攸
ZEM15澤攸臺式電鏡如何實現高分辨與低損傷平衡?

產品簡介
澤攸臺式電鏡如何實現高分辨與低損傷平衡?掃描電子顯微鏡的成像質量與樣品損傷是一對永恒矛盾:高加速電壓(如30kV)可提升分辨率,但易導致不導電樣品荷電、有機樣品灼燒;低加速電壓(如5kV)減少損傷,卻可能因電子束穿透力不足導致圖像模糊。澤攸ZEM15通過“多模式電子光學系統"設計,實現了高分辨與低損傷的動態平衡。
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澤攸臺式電鏡如何實現高分辨與低損傷平衡