服務(wù)熱線
17701039158
產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER當(dāng)前位置:首頁
產(chǎn)品中心
臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析
澤攸臺(tái)式掃描電鏡
產(chǎn)品分類
納米尺度分析:ZEM系列臺(tái)式電鏡介紹 澤攸電鏡的JS系列臺(tái)階儀是進(jìn)行納米尺度表面輪廓和膜厚測(cè)量的工具。它與掃描電鏡技術(shù)相結(jié)合,可提供多維度的樣品信息。
高分辨成像:ZEM系列臺(tái)式電鏡介紹 對(duì)于尋求高分辨成像能力的用戶,澤攸電鏡的ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡將高性能融入小巧的機(jī)身中。該產(chǎn)品減少了用戶對(duì)大型設(shè)備空間的依賴。
澤攸透射電鏡:探索微觀世界 澤攸電射推出的PicoScan系列掃描電鏡(SEM),為材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)和納米技術(shù)研究提供了一種觀察工具。該系列電鏡設(shè)計(jì)緊湊,適合實(shí)驗(yàn)室環(huán)境。
澤攸科技ZEM15C是一款緊湊型臺(tái)式掃描電子顯微鏡,專為材料科學(xué)、生命科學(xué)、工業(yè)檢測(cè)等領(lǐng)域設(shè)計(jì)。該設(shè)備在保持傳統(tǒng)電鏡高分辨率優(yōu)勢(shì)的同時(shí),通過優(yōu)化設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了操作簡(jiǎn)便性和空間效率的平衡。澤攸科技ZEM15C臺(tái)式掃描電鏡技術(shù)解析與應(yīng)用
掃碼加微信
Copyright©2025 北京儀光科技有限公司 版權(quán)所有 備案號(hào):京ICP備2021017793號(hào)-2 sitemap.xml
技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸