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在納米材料研發(fā)、先進儲能器件優(yōu)化及半導(dǎo)體制造等領(lǐng)域，材料在服役環(huán)境中的動態(tài)行為研究至關(guān)重要。北京儀光憑借澤攸SEM/TEM原位分析系統(tǒng)，突破了傳統(tǒng)靜態(tài)表征的局限，為科學(xué)家提供了實時觀測材料微觀結(jié)構(gòu)演變的“納米級顯微鏡”，成為推動材料科學(xué)突破的關(guān)鍵工具。1.原位SEM：動態(tài)形變與失效機制的“現(xiàn)場直播”ZEM系列臺式掃描電鏡搭載的原位拉伸/壓縮模塊，可在真空或可控氣氛環(huán)境中對金屬、陶瓷、高分子材料進行納米級精度的力學(xué)加載。例如，在鋰離子電池隔膜研究中，通過原位SEM可實時觀察隔膜...

在現(xiàn)代電子設(shè)備中，有一群“隱形功臣”——微型BUMPS。它們是集成電路里的核心連接器，負責(zé)實現(xiàn)堆疊管芯或中介層之間的電氣和機械連接，手機、平板、電腦等設(shè)備能高效運轉(zhuǎn)，可離不開它們的功勞。01高精度測量，全面分析使用50倍干涉鏡頭，Sneox能對微型BUMPS進行三維輪廓測量，在高分辨率下全面分析，驗證其高度、直徑和平整度，有效防止粘合失敗并優(yōu)化電氣性能。更厲害的是，僅需3秒就能分析所有測量數(shù)據(jù)，大大提高了效率。02性能，優(yōu)勢盡顯速度驚人：采用新的智能算法以及新型相機，數(shù)據(jù)采集...

在傳統(tǒng)測量領(lǐng)域，復(fù)雜工件的檢測往往面臨效率低、操作繁瑣、動態(tài)呈現(xiàn)不足等痛點。而SensoFIVE的出現(xiàn)，正以其特別的五軸動態(tài)實時呈現(xiàn)技術(shù)，為這一領(lǐng)域帶來不一樣性的變革。傳統(tǒng)測量常受困于操作復(fù)雜、動態(tài)呈現(xiàn)不足，而SensoFIVE的出現(xiàn)打破了這一局面。，時長02:54它與Sneox五軸系統(tǒng)無縫協(xié)作，三維查看器能實時展現(xiàn)五軸運動細節(jié)，旋轉(zhuǎn)角度、高度調(diào)整皆直觀可見，讓測量從抽象變具象。放置樣本到平面托盤，3D查看器可快速還原其形狀；借助旋轉(zhuǎn)支架測量圓柱體時，實時反饋讓操作更便捷，大...

一、Sensofar白光干涉共聚焦顯微鏡核心應(yīng)用場景半導(dǎo)體制造與微電子檢測晶圓表面形貌測量：精確檢測晶圓表面粗糙度(Ra關(guān)鍵尺寸(CD)表征：利用共聚焦模式捕捉光刻膠結(jié)構(gòu)的側(cè)壁粗糙度(Sa封裝缺陷檢測：檢測芯片與基板貼合平整度，發(fā)現(xiàn)空洞、翹曲等問題，保障電子封裝電氣性能。例如，在動力電池模組封裝中，通過30片/分鐘的高速檢測識別0.2μm涂層不均缺陷，年節(jié)省探針刮傷導(dǎo)致的報廢成本超280萬元。精密零部件與模具制造表面粗糙度評估：測量發(fā)動機葉片、精密齒輪等高精度零部件的表面形貌...

一、Slynx2：多技術(shù)融合的三維測量方案該系統(tǒng)在同一傳感器頭內(nèi)集成干涉、共聚焦和AI多焦面疊加技術(shù)，搭配6個不同鏡頭的電動鼻輪與125×75毫米電動XY平臺，可實現(xiàn)多尺度測量。點擊觀看網(wǎng)絡(luò)研討會視頻↓，時長38:28以髖關(guān)節(jié)植入物髖臼杯外部測量為例，采用共聚焦技術(shù)與50倍長焦鏡頭，通過Z向掃描獲取三維圖像，再借助SensoVIEW軟件分析數(shù)據(jù)，精準評估表面狀況，為骨細胞整合優(yōu)化提供依據(jù)二、QvixPivot：支架缺陷檢測的專業(yè)之選作為針對支架與心臟瓣膜框架的檢測方案，其運用...

在半導(dǎo)體芯片尺寸逼近物理極限、納米材料應(yīng)用突破傳統(tǒng)邊界的今天，如何實現(xiàn)微米級甚至納米級器件的精準測試與操控，成為制約科技創(chuàng)新的關(guān)鍵瓶頸。澤攸憑借自主研發(fā)的探針臺系列產(chǎn)品，以“三維定位精度達納米級、環(huán)境適應(yīng)性跨越-196℃至400℃”的核心技術(shù)，為微納電子、光電材料、量子計算等領(lǐng)域提供了從基礎(chǔ)研究到產(chǎn)業(yè)化的全鏈條解決方案。一、半導(dǎo)體行業(yè)的“質(zhì)量守門人”在晶圓制造環(huán)節(jié)，澤攸手動探針臺系統(tǒng)通過特制熱沉設(shè)計將溫度波動控制在±0.1℃以內(nèi)，配合高精度微調(diào)樣品座，可實現(xiàn)0....

Ssw的定義與物理意義Ssw指的是與傅立葉變換最大值相對應(yīng)的波長。從表面紋理的構(gòu)成機制來看，任何物體表面都可視為不同尺度波的疊加組合，而傅立葉變換能夠定量分析各個波長成分對整體紋理的貢獻程度。在此過程中，Ssw參數(shù)所表征的正是對表面紋理形成貢獻最大的波長分量。需要特別指出的是，Ssw的應(yīng)用存在一定的適用范圍。當面對缺乏明顯周期性圖案的表面時，該參數(shù)的表征意義會相應(yīng)減弱。這是因為在這種情況下，不存在占主導(dǎo)地位的波長成分，傅立葉變換的最大值所對應(yīng)的波長無法準確反映表面的典型特征。...

在半導(dǎo)體制造、精密光學(xué)加工等高級領(lǐng)域，表面形貌的微小起伏可能直接影響器件性能。白光干涉儀憑借其納米級測量精度，成為微觀形貌檢測的“黃金標準”。其核心原理在于利用光的干涉現(xiàn)象，將表面高度變化轉(zhuǎn)化為可量化的光學(xué)信號，實現(xiàn)非接觸、高精度的三維形貌測量。一、干涉原理：光程差與表面高度的精密映射白光干涉儀通過分光棱鏡將光源分為兩束光：一束投射至被測樣品表面，另一束射向參考鏡。兩束反射光在CCD相機感光面疊加形成干涉條紋。當樣品表面存在高度差時，光程差隨之變化——每移動一個條紋間距，光程...