三維光學輪廓儀ContourX-500

ContourX家族的桌面旗艦型號，全自動設計，帶編碼器的樣品臺，頭部傾斜設計，和AcuityXR實現高橫向分辨率

三維光學輪廓儀ContourX-500 是全球功能***的自動化臺式系統，可快速完成非接觸式三維表面計量。ContourX-500 具有**的 Z 軸分辨率和準確度，并具備布魯克落地式白光干涉（WLI）儀器廣受業界認可的所有優勢，而占地面積更小。該款輪廓儀可輕松自主配置，適用于從精密加工表面和半導體工藝的質量保證／質量控制（QA/QC）計量到眼科和微機電系統（MEMS）器件的研發表征等廣泛的復雜應用。

傾斜/俯仰

光學頭

旋轉測頭進行不同角度測量表面特征時，將跟蹤誤差減至**。

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用戶界面

提供對大量預編程過濾器和分析程序的直接調用。

集成式

氣浮隔震

在緊湊空間內提供最佳計量精度。

特點

專為**臺式計量設計

布魯克專有的光學頭傾斜/俯仰技術，為用戶生產設置和檢測提供極大的靈活度。布魯克將自動傾斜/俯仰功能與顯微鏡頭中的光路相結合，實現了檢測點與視線的結合，不受傾斜影響，從而減少操作人員的干預，提供最大可重現性。其他硬件功能包括創新工作臺設計，可提升拼接能力；配備一只 5MP 攝像頭，并采用 1200x1000 測量陣列，可降低噪聲、擴大視場并提高橫向分辨率。ContourX-500 將這些功能與自動化平臺設置和物鏡相融合，而且僅占較小的空間，成為“按需測量”研發和工業計量的理想系統。

傳統的俯仰滾動工作臺設計需要操作人員調整五個旋轉軸，以將檢測點保持在視線上進行測量。布魯克**的光學頭傾斜/俯仰設計，不受傾斜影響，都能將視線保持在檢測點上，從而優化圖像采集，并大幅縮短數據獲取時間。

直接使用多種分析

分析微流體器件的底部通道，通過 Vision64 的多個區域直接提取。

三維光學輪廓儀ContourX-500 采用布魯克簡單而強大的 VisionXpress™ 和 Vision64® 用戶界面，提供數千種自定義分析以提升實驗室和工廠的效率。布魯克全新通用掃描干涉（USI）測量模式可提供全自動、自感知式表面紋理、優化信號處理，同時對所分析的表面形貌執行最準確、最實際的計算。