在材料微觀特性探究、元件質量把控的科研及工業場景里，表面輪廓測量的精度與效率，直接影響著研究進展與產品品質。布魯克白光干涉光學輪廓儀，以其精巧設計與實用功能，成為眾多專業人士信賴的得力工具。下面為你介紹兩款該系列的產品。布魯克白光干涉儀：輪廓測量新選擇
一、ContourX - 500：桌面旗艦，高效精準
產品細節：緊湊設計，操作便捷
ContourX - 500 作為桌面旗艦型號，外觀設計緊湊，占用空間小，非常適合實驗室空間有限的環境。其操作界面簡潔直觀，各類控制按鈕布局合理，新手也能快速上手。樣品臺設計，帶編碼器的樣品臺可實現精準定位，頭部傾斜設計方便從不同角度測量表面特征，減少跟蹤誤差，確保測量的準確性與可重復性。設備還配備一只 5MP 攝像頭，并采用 1200x1000 測量陣列，有效降低噪聲、擴大視場并提高橫向分辨率 ，讓微小細節無所遁形。
產品性能：技術融合，穩定可靠
這款輪廓儀融合了優良的白光干涉技術與精密光學系統。白光干涉技術通過分析不同波長光干涉產生的條紋，精準識別樣品表面微觀起伏。在測量過程中，設備運行穩定，受外界環境干擾影響小，保障測量結果的穩定性與一致性。它具備出色的 Z 軸分辨率和準確度，擁有布魯克落地式白光干涉（WLI）儀器廣受認可的優勢，可在多種復雜表面上獲取高質量測量數據。測量范圍靈活，能根據樣品需求調整參數，無論是對大面積區域進行快速掃描，還是針對微小局部進行精細測量，都能輕松勝任。
用材講究：品質選材，經久耐用
布魯克在 ContourX - 500 的選材上十分用心。核心光學部件采用高品質光學玻璃，具備良好的透光性和低色散特性，減少光線傳播中的能量損失與圖像畸變，保證測量成像清晰準確。內部機械結構選用高強度、耐磨的金屬材料，如傳動部件采用優質合金鋼，確保長期高頻使用下，依然維持精確的運動精度和良好的機械性能，延長設備使用壽命，降低維護成本。設備外殼堅固且抗腐蝕，有效保護內部精密部件，適應多樣的使用環境。
參數詳情
廣泛用途
在半導體工藝的質量保證與質量控制（QA/QC）計量中，ContourX - 500 可精確測量晶圓表面的平整度、刻蝕圖案的深度與寬度等參數，助力提升芯片制造質量。在眼科領域，能對隱形眼鏡等光學器件的表面形貌進行檢測，確保產品符合光學性能標準。對于微機電系統（MEMS）器件的研發表征，該輪廓儀可清晰呈現微小結構的表面特征，為器件性能優化提供關鍵數據支持。
使用說明
初次使用前，仔細檢查設備外觀有無損壞，各部件連接是否牢固。將設備放置在平穩、無振動的工作臺上，確保工作環境溫度、濕度適宜，避免環境因素影響測量精度。連接電源及相關配件后，按照說明書進行設備初始化設置。安裝樣品時，根據樣品特性選擇合適的固定方式，確保樣品穩固且處于正確測量位置。設置測量參數時，依據樣品類型、測量目的謹慎選擇測量范圍、分辨率、掃描模式等。測量過程中，密切關注設備運行狀態，若發現圖像異常、測量數據波動過大等情況，立即停止測量，排查故障原因，如檢查光路是否有遮擋、樣品是否發生位移等。測量完成后，及時關閉設備電源，清理樣品臺，定期對設備進行全面清潔與維護，包括清潔光學部件、潤滑機械傳動部件等，確保設備始終處于良好工作狀態。布魯克白光干涉儀：輪廓測量新選擇
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