在科研探索與工業生產對高精度測量需求日益增長的當下，布魯克 ContourX - 1000 白光干涉光學輪廓儀以其設計與強大性能，成為落地式測量設備中的，為眾多領域帶來全新的測量體驗。布魯克白光干涉輪廓儀落地式測量的革新力量
產品細節：穩固設計，智能操作
ContourX - 1000 采用落地式結構，機身穩固，能有效抵抗外界振動干擾。其集成了 Bruker 傾斜 / 俯仰光學頭，雙光源、自動化的物鏡轉盤和樣品臺，以及可選配的晶圓卡盤 。這種創新設計為各種復雜應用提供了極大便利，對于有難度的表面和深溝槽結構也能輕松應對。操作界面配備簡潔且有引導性的 VisionXpress™程序和模式，降低了操作人員的使用難度，即使經驗不足也能快速上手，輕松完成測量工作。全新的一鍵式高級尋找表面（Advanced Find Surface ™）功能結合自動聚焦和自動照明功能，無需每次測量前手動查找樣品表面，極大提升了用戶體驗且縮短測量時間 。
產品性能：*技術，高效穩定
該輪廓儀融合了*的白光干涉技術與自動化功能。白光干涉技術精準測量表面微觀形貌，自動化功能則大幅提高測量效率。設備運行穩定，配備專屬的內部參考激光和防震臺，即便在嘈雜環境中，也能確保測量性能不受影響，提供可靠的測量結果。全局掃描干涉（USI）自適應測量模式可自動確定測量參數，在幾十微米尺度內也能確保納米級分辨率 ，無論是對光滑表面還是粗糙表面，都能實現高精度測量。
用材講究：堅固耐用，品質保障
ContourX - 1000 的選材注重堅固耐用與性能穩定。光學部件采用高品質材料，確保成像清晰、測量準確。機械結構選用高強度金屬，保證設備在長期使用中，維持精準的運動精度。設備整體架構設計穩固，有效抵抗外界干擾，適應工業生產車間等復雜環境，保障設備的穩定運行與長期使用。
參數詳情
廣泛用途
在材料研發中，可用于分析材料表面的微觀結構、涂層厚度均勻性等，為新材料的開發與性能優化提供重要依據。在半導體制造環節，能精確檢測芯片表面的平整度、缺陷等，保障芯片制造的良品率。在汽車零部件制造、醫療器械生產等行業，對于零部件表面粗糙度、紋理的測量，有助于提升產品質量，確保產品性能符合標準。布魯克 ContourX - 1000 白光干涉光學輪廓儀憑借創新設計、強大性能與廣泛適用性，成為落地式測量設備中的革新力量，助力各行業在精密測量領域不斷突破，邁向新的高度。布魯克白光干涉輪廓儀落地式測量的革新力量
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