Sensofar三維共聚焦白光干涉儀是一款高精度表面測量設(shè)備，適用于多種工業(yè)場景。設(shè)備采用非接觸式白光干涉技術(shù)，具備高精度、高分辨率和快速測量能力。設(shè)備支持多種放大倍率和視場選擇，適用于不同尺寸和形狀的樣品測量。Sensofar輪廓儀表面測量解決方案

設(shè)備具備抗震性能，適合在生產(chǎn)車間中使用，無需振動(dòng)隔離裝置。其非接觸式測量技術(shù)確保了測量的穩(wěn)定性和可靠性，適用于多種工業(yè)場景，如光學(xué)元件、精密機(jī)械加工、生物醫(yī)學(xué)材料等。設(shè)備配備高分辨率傳感器和自動(dòng)聚焦功能，操作簡便，適合快速測量和數(shù)據(jù)分析

設(shè)備支持多種放大倍率和視場選擇，適用于不同尺寸和形狀的樣品測量。其非接觸式測量技術(shù)避免了對樣品的損傷，適用于多種材料表面的測量。設(shè)備配備高分辨率傳感器和自動(dòng)聚焦功能，操作簡便，適合快速測量和數(shù)據(jù)分析。Sensofar輪廓儀表面測量解決方案

Sensofar三維共聚焦白光干涉儀是一款非接觸式光學(xué)輪廓儀，適用于多種表面形貌測量。設(shè)備采用白光干涉技術(shù)，具備高精度和高分辨率，適用于多種材料表面的測量。

設(shè)備具備非接觸式測量技術(shù)，避免了對樣品的損傷，適用于多種材料表面的測量，如光學(xué)元件、半導(dǎo)體、生物醫(yī)學(xué)材料等。其測量精度高，可達(dá)到納米級，滿足ISO 25178標(biāo)準(zhǔn)的表面粗糙度測量要求。設(shè)備具備自動(dòng)聚焦和自動(dòng)對焦功能，操作簡便，適合快速測量和數(shù)據(jù)分析Sensofar輪廓儀工業(yè)級表面測量工具