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三維光學(xué)輪廓儀
BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀
布魯克白光干涉輪廓儀型號與參數(shù)詳解
布魯克白光干涉輪廓儀型號與參數(shù)詳解布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀通過白光干涉技術(shù)實(shí)現(xiàn)高分辨率表面測量。
布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀包含多個(gè)型號,常見的有Explorer系列和Contour系列。Explorer系列注重靈活性和擴(kuò)展性,支持多種附件和自定義配置;Contour系列側(cè)重于自動化和大批量測量,適合工業(yè)環(huán)境。布魯克白光干涉輪廓儀型號與參數(shù)詳解
主要參數(shù)包括:垂直分辨率通常為0.1納米至1納米,橫向分辨率取決于物鏡,范圍在0.3微米到10微米之間。掃描速度可達(dá)每秒數(shù)微米至數(shù)百微米,具體取決于測量模式和精度設(shè)置。視場大小隨物鏡變化,從0.1毫米到10毫米不等。
儀器結(jié)構(gòu)采用鋁合金框架,重量較輕且剛性較好。光學(xué)部件使用石英玻璃和抗反射涂層,提高透光率和耐用性。電源模塊符合國際安全標(biāo)準(zhǔn),適應(yīng)100-240V電壓輸入。
該產(chǎn)品用于精密制造、科研實(shí)驗(yàn)和質(zhì)量控制等領(lǐng)域。例如,在汽車工業(yè)中,可用于發(fā)動機(jī)部件表面磨損分析;在 academia,支持材料表面研究。使用前需進(jìn)行開機(jī)校準(zhǔn),通過軟件向?qū)瓿沙跏荚O(shè)置。測量過程中,用戶可選擇自動或手動模式,軟件實(shí)時(shí)顯示三維形貌圖像和數(shù)據(jù)曲線。
維護(hù)方面,建議定期檢查光學(xué)路徑清潔度和機(jī)械部件潤滑情況。長期停用時(shí),需覆蓋防塵罩并存儲于干燥環(huán)境中。
在材料方面,儀器基座采用阻尼材料以減少外部振動,光學(xué)組件安裝在溫度穩(wěn)定性較高的結(jié)構(gòu)上,降低熱脹冷縮帶來的誤差。樣品臺通常由不銹鋼制成,表面經(jīng)過防腐蝕處理,適合多種環(huán)境使用。
該產(chǎn)品提供多種型號,例如標(biāo)準(zhǔn)型、高速型和高分辨率型,滿足不同應(yīng)用場景的需求。標(biāo)準(zhǔn)型號適用于常規(guī)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境,而高速型號適合生產(chǎn)線上的快速檢測。高分辨率型號則針對科研領(lǐng)域,提供更細(xì)致的表面細(xì)節(jié)捕捉。
布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀通過白光干涉技術(shù)實(shí)現(xiàn)高分辨率表面測量。其性能特點(diǎn)包括良好的重復(fù)性和適應(yīng)性,能夠處理不同反射率的樣品,從高反光金屬到透明薄膜均可測量。
設(shè)備采用LED白光光源,壽命較長且光譜穩(wěn)定,有利于保持測量的一致性。干涉鏡頭內(nèi)置參考鏡,通過壓電陶瓷驅(qū)動器實(shí)現(xiàn)納米級精度的掃描移動。系統(tǒng)內(nèi)置振動補(bǔ)償算法,減少環(huán)境干擾對測量結(jié)果的影響。
在材料方面,儀器基座采用阻尼材料以減少外部振動,光學(xué)組件安裝在溫度穩(wěn)定性較高的結(jié)構(gòu)上,降低熱脹冷縮帶來的誤差。樣品臺通常由不銹鋼制成,表面經(jīng)過防腐蝕處理,適合多種環(huán)境使用。
該產(chǎn)品提供多種型號,例如標(biāo)準(zhǔn)型、高速型和高分辨率型,滿足不同應(yīng)用場景的需求。標(biāo)準(zhǔn)型號適用于常規(guī)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境,而高速型號適合生產(chǎn)線上的快速檢測。高分辨率型號則針對科研領(lǐng)域,提供更細(xì)致的表面細(xì)節(jié)捕捉。
用途廣泛,包括MEMS器件測量、涂層厚度分析、磨損表面檢測等。使用時(shí)需注意環(huán)境光線控制,避免強(qiáng)光直射干擾測量。軟件提供多種分析工具,如粗糙度計(jì)算、體積分析和輪廓對比,幫助用戶全面評估表面特性。布魯克白光干涉輪廓儀型號與參數(shù)詳解
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