布魯克輪廓儀：入門級三維測量利器

產(chǎn)品簡介

布魯克輪廓儀：入門級三維測量利器
在精密測量需求日益普及的當下，并非所有用戶都需要復(fù)雜功能的設(shè)備。對于剛接觸三維光學(xué)測量的科研團隊、中小型制造企業(yè)，或是僅需基礎(chǔ)表面檢測的場景，一款操作簡單、性價比高且性能可靠的儀器尤為重要。ContourX-100 三維光學(xué)輪廓儀，正是為這類需求量身打造的入門級產(chǎn)品，以簡潔設(shè)計與實用功能，降低三維測量門檻。

產(chǎn)品型號：ContourX-100

更新時間：2025-08-29

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：49

產(chǎn)品咨詢 17701039158

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學(xué)輪廓儀

布魯克 BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀 Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學(xué)輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結(jié)構(gòu)光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學(xué)輪廓儀布魯克三維光學(xué)輪廓儀

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布魯克輪廓儀：入門級三維測量利器

在精密測量需求日益普及的當下，并非所有用戶都需要復(fù)雜功能的設(shè)備。對于剛接觸三維光學(xué)測量的科研團隊、中小型制造企業(yè)，或是僅需基礎(chǔ)表面檢測的場景，一款操作簡單、性價比高且性能可靠的儀器尤為重要。ContourX-100 三維光學(xué)輪廓儀，正是為這類需求量身打造的入門級產(chǎn)品，以簡潔設(shè)計與實用功能，降低三維測量門檻。

產(chǎn)品細節(jié)與用材

ContourX-100 在材質(zhì)選擇上注重實用性與經(jīng)濟性的平衡。機身采用優(yōu)質(zhì)工程塑料與輕量化合金組合，既保證了結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性，又有效控制了設(shè)備重量與成本，整機搬運與安裝更為便捷，適合空間有限的小型實驗室或生產(chǎn)車間。光學(xué)系統(tǒng)采用標準化光學(xué)組件，經(jīng)過嚴格校準，確保基礎(chǔ)測量場景下的成像質(zhì)量，同時簡化了后期維護流程。

儀器操作界面設(shè)計簡潔，配備高清液晶顯示屏與實體功能按鍵，無需專業(yè)編程知識即可快速上手；樣品臺采用防滑耐磨的 ABS 材質(zhì)，搭配可調(diào)節(jié)簡易夾具，能穩(wěn)定固定中小型樣品，且清潔方便，日常使用中不易積累污漬。此外，設(shè)備外殼經(jīng)過防靜電處理，可減少靜電對電子元件與測量過程的干擾，提升使用安全性。

產(chǎn)品性能

基礎(chǔ)測量需求的精準滿足

ContourX-100 的 Z 軸最大掃描量程為≤2mm，專注于基礎(chǔ)表面測量場景，垂直分辨率可達＜0.05nm，能準確捕捉樣品表面的細微高度變化，如薄膜厚度、小型零件的表面粗糙度等。水平分辨率為 1.0μm（Sparrow 準則），搭配基礎(chǔ)光學(xué)成像算法，可清晰呈現(xiàn)樣品表面的宏觀紋理與結(jié)構(gòu)，滿足入門級測量對精度的基本要求。

簡便操作與快速上手

儀器僅支持手動操作模式，操作流程簡化為 “放置樣品 - 調(diào)整位置 - 設(shè)置參數(shù) - 啟動測量" 四個核心步驟。參數(shù)設(shè)置界面提供預(yù)設(shè)模板，涵蓋金屬、塑料、玻璃等常見材料的基礎(chǔ)測量參數(shù)，用戶無需自行反復(fù)調(diào)試，選擇對應(yīng)模板即可啟動測量，大幅縮短學(xué)習(xí)周期。同時，儀器配備實時圖像預(yù)覽功能，通過顯示屏可直接觀察測量區(qū)域，便于快速調(diào)整樣品位置，提升操作效率。

穩(wěn)定的基礎(chǔ)工作表現(xiàn)

針對入門級使用場景的環(huán)境特點，ContourX-100 配備簡易減震腳墊，能過濾地面輕微震動，在普通辦公或?qū)嶒炇噎h(huán)境下即可正常工作，無需額外投入減震設(shè)備。儀器工作溫度范圍為 18-28℃，在常規(guī)室內(nèi)溫度波動下，測量數(shù)據(jù)偏差可控制在允許范圍內(nèi)，滿足基礎(chǔ)測量對數(shù)據(jù)穩(wěn)定性的需求。此外，設(shè)備功耗較低，連續(xù)工作時發(fā)熱少，可長時間穩(wěn)定運行，適合中小型企業(yè)的批量抽檢場景。

參數(shù)表

參數(shù)	詳情
最大掃描量程	≤2 mm
垂直分辨率	＜0.05 nm
水平分辨率	1.0 μm（Sparrow 準則）
臺階高度準確性	＜1.5%
臺階高度重復(fù)性	＜0.3% 1 sigma repeatability
最大掃描速度	15 μm/sec（標準配置）
樣品反射率范圍	0.5% 到 100%
最大樣品傾角	≤30°（光滑表面）；≤75°（粗糙表面）
樣品高度	≤50 mm（1.97 in.）
XY 樣品臺	80 mm（3.15 in.）手動調(diào)節(jié)樣品臺（無編碼器）
Z 軸聚焦	手動調(diào)節(jié)
傾斜功能	無（需手動調(diào)整樣品角度）
光學(xué)計量模塊	標準化單色 LED 照明；固定單物鏡
物鏡	固定 10X（可選配 5X 或 20X）
放大器	固定 1X
攝像頭	單色；1.3 MP with 640×480 data array
軟件系統(tǒng)	VisionXpress 精簡版分析軟件（兼容 Windows 10 OS；32-bit）
自動測量功能	無
校準	通過 NIST/PTB 可追溯臺階高度標準（需定期手動校準）
設(shè)備尺寸	350 mm（W）x 450 mm（D）x 600 mm（H）
重量	40 kg
保修期	12 months

用途

小型制造企業(yè)質(zhì)量抽檢

在小型電子元件、塑料零件等生產(chǎn)場景中，可用于抽檢產(chǎn)品表面粗糙度、尺寸偏差等基礎(chǔ)指標。例如，在小型玩具零件生產(chǎn)中，通過 ContourX-100 測量零件表面的光滑度，判斷是否符合安全標準，避免因表面毛刺導(dǎo)致的使用風(fēng)險。

高校基礎(chǔ)教學(xué)實驗

適合作為高校材料、機械等專業(yè)的基礎(chǔ)教學(xué)設(shè)備，用于演示三維光學(xué)測量原理、表面形貌分析等實驗課程。學(xué)生可通過實際操作，掌握樣品放置、參數(shù)設(shè)置、數(shù)據(jù)讀取等基礎(chǔ)技能，為后續(xù)深入學(xué)習(xí)打下基礎(chǔ)。

科研團隊初步研究

在科研項目初期的樣品篩選、基礎(chǔ)數(shù)據(jù)采集階段，可用于快速獲取樣品表面的基礎(chǔ)三維信息。例如，在新型薄膜材料研發(fā)中，通過 ContourX-100 測量薄膜厚度與表面平整度，初步判斷材料制備工藝的可行性，為后續(xù)深入研究提供基礎(chǔ)數(shù)據(jù)支持。

使用說明

設(shè)備啟動與準備：將儀器放置在水平桌面，連接電源與電腦（需安裝配套精簡版軟件），打開設(shè)備開關(guān)與軟件。等待儀器預(yù)熱完成（約 1-2 分鐘），期間請勿觸碰光學(xué)鏡頭與樣品臺。使用無塵布蘸取酒精，輕輕擦拭樣品表面，去除灰塵、指紋等雜質(zhì)。

樣品放置與定位：根據(jù)樣品尺寸，調(diào)整樣品臺簡易夾具，將樣品平穩(wěn)固定在樣品臺中央。通過手動旋鈕移動樣品臺，觀察儀器顯示屏或電腦軟件中的實時圖像，將待測量區(qū)域調(diào)整至視野中心，旋轉(zhuǎn)調(diào)焦旋鈕，使圖像清晰。

參數(shù)設(shè)置與測量：在軟件中選擇對應(yīng)樣品材料的預(yù)設(shè)參數(shù)模板，確認掃描量程（默認≤2mm，可根據(jù)樣品實際情況微調(diào)）、測量時間等參數(shù)。點擊 “開始測量"，儀器將手動控制掃描過程，期間保持手部穩(wěn)定，避免觸碰設(shè)備。

數(shù)據(jù)處理與保存：測量完成后，軟件將生成三維形貌圖與基礎(chǔ)參數(shù)（如粗糙度 Ra、平均厚度等）。可通過軟件中的基礎(chǔ)分析工具，查看數(shù)據(jù)詳情，標注關(guān)鍵測量點。確認數(shù)據(jù)無誤后，將數(shù)據(jù)以圖片或表格形式保存至電腦，便于后續(xù)整理與匯報。

ContourX-100 三維光學(xué)輪廓儀以操作簡單、性價比高、滿足基礎(chǔ)測量需求的特點，為中小型企業(yè)、高校、科研團隊等用戶提供了入門級三維測量解決方案，幫助用戶以較低成本，快速獲取樣品表面的基礎(chǔ)三維信息。布魯克輪廓儀：入門級三維測量利器

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