Sensofar S neox精密部件 3D 輪廓測(cè)量工具
在精密制造、半導(dǎo)體封裝、光學(xué)元件加工等領(lǐng)域，對(duì)部件表面 3D 輪廓的精準(zhǔn)測(cè)量是把控產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，Sensofar 新型共聚焦白光干涉輪廓儀 S neox 憑借光學(xué)設(shè)計(jì)與穩(wěn)定的測(cè)量性能，成為眾多行業(yè)的實(shí)用選擇，為微觀尺度的輪廓分析提供有力支持。
一、產(chǎn)品細(xì)節(jié)：緊湊設(shè)計(jì)適配多樣場(chǎng)景
S neox 采用臺(tái)式一體化設(shè)計(jì)，整體尺寸約為 600mm×500mm×750mm，重量控制在 70kg 以?xún)?nèi)，無(wú)需占用過(guò)大實(shí)驗(yàn)室或車(chē)間空間，普通操作臺(tái)即可平穩(wěn)放置。機(jī)身外殼選用高強(qiáng)度鋁合金材質(zhì)，表面經(jīng)過(guò)陽(yáng)極氧化處理，不僅具備良好的抗腐蝕能力，能抵御車(chē)間或?qū)嶒?yàn)室環(huán)境中的輕微酸堿侵蝕，還能減少外界光線反射對(duì)光學(xué)系統(tǒng)的干擾，保障測(cè)量穩(wěn)定性。
設(shè)備核心光學(xué)系統(tǒng)采用密封式設(shè)計(jì)，鏡頭組與干涉模塊集成在防塵防霧的光學(xué)艙內(nèi)，避免灰塵、水汽進(jìn)入影響成像質(zhì)量。鏡頭接口采用標(biāo)準(zhǔn)化設(shè)計(jì)，兼容 2.5x、5x、10x、20x、50x、100x 六種常用物鏡，操作人員可根據(jù)測(cè)量需求快速更換物鏡，無(wú)需復(fù)雜的校準(zhǔn)流程。樣品臺(tái)采用電動(dòng)控制方式，支持 X 軸 100mm、Y 軸 100mm、Z 軸 50mm 的移動(dòng)范圍，搭配高精度光柵尺，移動(dòng)精度可達(dá) 0.1μm，能精準(zhǔn)定位不同尺寸的樣品，從直徑 5mm 的微型光學(xué)鏡片到邊長(zhǎng) 80mm 的半導(dǎo)體晶圓，均能穩(wěn)定承載并完成全范圍測(cè)量。
操作界面配備 15.6 英寸觸控顯示屏，界面設(shè)計(jì)簡(jiǎn)潔明了，常用功能如 “測(cè)量啟動(dòng)"“參數(shù)設(shè)置"“數(shù)據(jù)導(dǎo)出" 等以圖標(biāo)形式呈現(xiàn)，操作人員經(jīng)過(guò)簡(jiǎn)單培訓(xùn)即可上手。設(shè)備還支持電腦遠(yuǎn)程控制，通過(guò)專(zhuān)用軟件可在電腦上完成參數(shù)設(shè)置、測(cè)量操作與數(shù)據(jù)處理，方便多人協(xié)作分析測(cè)量結(jié)果。
二、產(chǎn)品性能：多技術(shù)融合提升測(cè)量能力
S neox 融合了共聚焦顯微鏡與白光干涉技術(shù)的優(yōu)勢(shì)，既能通過(guò)共聚焦技術(shù)實(shí)現(xiàn)高橫向分辨率的 2D 成像，又能借助白光干涉技術(shù)獲取高精度的 3D 輪廓數(shù)據(jù)。其共聚焦模塊采用高亮度 LED 白光光源，光譜范圍覆蓋 450nm～650nm，搭配高靈敏度 CMOS 圖像傳感器，橫向分辨率可達(dá) 0.12μm，能清晰捕捉樣品表面的細(xì)微紋理，如金屬部件的劃痕、光學(xué)元件的表面缺陷等。
白光干涉模塊則通過(guò)分析不同波長(zhǎng)光線的干涉條紋，計(jì)算樣品表面各點(diǎn)的高度信息，縱向測(cè)量分辨率可達(dá) 0.1nm，測(cè)量范圍覆蓋 1nm～10mm，能滿足從納米級(jí)臺(tái)階到毫米級(jí)高度差的測(cè)量需求。例如在半導(dǎo)體封裝檢測(cè)中，可精準(zhǔn)測(cè)量芯片鍵合引線的高度與間距；在光學(xué)鏡片加工中，能檢測(cè)鏡片表面的曲率半徑與面型誤差。
設(shè)備還具備自動(dòng)對(duì)焦與自動(dòng)拼接功能，自動(dòng)對(duì)焦功能可快速找到樣品的優(yōu)良成像平面，減少人工調(diào)節(jié)時(shí)間；自動(dòng)拼接功能則能將多個(gè)局部測(cè)量區(qū)域的 3D 數(shù)據(jù)拼接成完整的樣品輪廓圖像，適用于大尺寸樣品的全表面測(cè)量，如 6 英寸晶圓的表面輪廓分析。
三、用材與參數(shù)：核心部件保障測(cè)量精度
S neox 的關(guān)鍵部件選用高品質(zhì)材料，光學(xué)鏡頭采用低色散光學(xué)玻璃，經(jīng)過(guò)多層增透膜處理，能有效減少光線反射損失，提升光透過(guò)率，確保成像清晰。鏡頭鏡筒采用不銹鋼材質(zhì)，具備良好的剛性與穩(wěn)定性，長(zhǎng)期使用后不易因溫度變化出現(xiàn)形變，保障光學(xué)系統(tǒng)的同軸度。
樣品臺(tái)的導(dǎo)軌采用精密滾珠結(jié)構(gòu)，表面覆蓋耐磨涂層，摩擦系數(shù)小，移動(dòng)順滑無(wú)卡頓，且長(zhǎng)期使用后仍能保持良好的運(yùn)動(dòng)精度。測(cè)量軟件內(nèi)置多種國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量算法，如 ISO 4287 表面粗糙度測(cè)量算法、ISO 12781-2 臺(tái)階高度測(cè)量算法等，能確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性與通用性。
以下為 S neox 的核心參數(shù)表：
四、用途與使用說(shuō)明：覆蓋多領(lǐng)域測(cè)量需求
S neox 的用途廣泛，在精密制造領(lǐng)域，可用于汽車(chē)零部件的表面粗糙度測(cè)量、模具型腔的 3D 輪廓檢測(cè)，判斷零部件加工精度是否符合設(shè)計(jì)要求；在半導(dǎo)體行業(yè)，能檢測(cè)晶圓表面的平整度、芯片封裝的鍵合質(zhì)量，保障半導(dǎo)體產(chǎn)品的性能穩(wěn)定；在光學(xué)行業(yè)，可測(cè)量光學(xué)鏡片的面型誤差、棱鏡的角度偏差，確保光學(xué)元件的光學(xué)性能；在高校科研領(lǐng)域，適合用于納米材料的形貌分析、生物樣品的 3D 結(jié)構(gòu)觀察，為科研實(shí)驗(yàn)提供精準(zhǔn)數(shù)據(jù)支持。
使用 S neox 時(shí)，需遵循以下步驟：首先將樣品固定在樣品臺(tái)上，根據(jù)樣品尺寸調(diào)整樣品夾位置，確保樣品穩(wěn)定無(wú)晃動(dòng)；然后打開(kāi)設(shè)備電源與專(zhuān)用測(cè)量軟件，軟件會(huì)自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備狀態(tài)，若一切正常，進(jìn)入?yún)?shù)設(shè)置界面，選擇合適的物鏡倍率、測(cè)量模式（共聚焦 / 白光干涉）與測(cè)量區(qū)域大小；接著點(diǎn)擊 “自動(dòng)對(duì)焦" 按鈕，設(shè)備會(huì)自動(dòng)調(diào)整鏡頭高度，找到樣品的優(yōu)良成像平面；隨后啟動(dòng)測(cè)量，設(shè)備會(huì)自動(dòng)采集樣品的 2D 圖像與 3D 輪廓數(shù)據(jù)，測(cè)量過(guò)程中可通過(guò)顯示屏實(shí)時(shí)查看測(cè)量進(jìn)度；測(cè)量完成后，軟件會(huì)自動(dòng)生成 3D 輪廓圖像與測(cè)量報(bào)告，報(bào)告中包含表面粗糙度（Ra、Rz）、臺(tái)階高度、曲率半徑等參數(shù)，可直接導(dǎo)出為所需格式，方便后續(xù)分析與存檔。
使用過(guò)程中需注意，測(cè)量前需清潔樣品表面，去除灰塵、油污等雜質(zhì)，避免影響測(cè)量結(jié)果；更換物鏡后需進(jìn)行簡(jiǎn)單的校準(zhǔn)，確保測(cè)量精度；設(shè)備長(zhǎng)期不使用時(shí)，需定期啟動(dòng)運(yùn)行，保持光學(xué)系統(tǒng)的穩(wěn)定性。
五、型號(hào)特點(diǎn)：適配中測(cè)量需求
作為 Sensofar 的核心型號(hào)，S neox 在保證測(cè)量精度的同時(shí)，兼顧了操作便捷性與經(jīng)濟(jì)性，適合對(duì)測(cè)量精度要求較高的制造企業(yè)、科研機(jī)構(gòu)與高校實(shí)驗(yàn)室。其融合共聚焦與白光干涉技術(shù)的設(shè)計(jì)，能滿足不同樣品的測(cè)量需求，減少設(shè)備采購(gòu)成本；自動(dòng)對(duì)焦、自動(dòng)拼接等智能化功能，大幅提升了測(cè)量效率，適合批量樣品的檢測(cè)；豐富的數(shù)據(jù)輸出格式，便于與其他分析軟件兼容，為后續(xù)數(shù)據(jù)處理提供便利。
無(wú)論是工業(yè)生產(chǎn)中的質(zhì)量控制，還是科研領(lǐng)域的微觀分析，S neox 都能以穩(wěn)定的性能、精準(zhǔn)的測(cè)量與便捷的操作，為用戶(hù)提供有力支持，助力提升產(chǎn)品質(zhì)量與科研水平。
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