Sensofar經(jīng)濟型三維共聚焦白光干涉輪廓儀是一款集成了多種優(yōu)良光學技術(shù)的高精度測量設(shè)備。其核心功能包括共聚焦、白光干涉和相位差干涉，能夠?qū)崿F(xiàn)納米級精度的表面形貌測量。設(shè)備具備高分辨率、快速掃描和大范圍測量能力，適用于多種材質(zhì)和結(jié)構(gòu)的表面檢測。

該設(shè)備支持多種測量模式，包括自動拼接檢測、一鍵3D測量和交互式分析，滿足不同測量需求。其智能化操作界面和自適應(yīng)USI模式，能夠快速獲得測量結(jié)果和報告輸出。此外，設(shè)備支持多種樣品反射率范圍（0.05%~100%），適用于多種材料的表面檢測。

在工業(yè)應(yīng)用中，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于半導體、汽車、電子、材料等領(lǐng)域，能夠?qū)Ρ砻娲植诙?、紋理、缺陷等進行專業(yè)分析。其非接觸式測量方式避免了對樣品的損傷，適用于精密加工和微納結(jié)構(gòu)檢測。

Sensofar經(jīng)濟型三維共聚焦白光干涉輪廓儀是一款集成了多種優(yōu)良光學技術(shù)的高精度測量設(shè)備。其核心功能包括共聚焦、白光干涉和相位差干涉，能夠?qū)崿F(xiàn)納米級精度的表面形貌測量。設(shè)備具備高分辨率、快速掃描和大范圍測量能力，適用于多種材質(zhì)和結(jié)構(gòu)的表面檢測。

該設(shè)備支持多種測量模式，包括自動拼接檢測、一鍵3D測量和交互式分析，滿足不同測量需求。其智能化操作界面和自適應(yīng)USI模式，能夠快速獲得測量結(jié)果和報告輸出。此外，設(shè)備支持多種樣品反射率范圍（0.05%~100%），適用于多種材料的表面檢測。

在工業(yè)應(yīng)用中，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于半導體、汽車、電子、材料等領(lǐng)域，能夠?qū)Ρ砻娲植诙?、紋理、缺陷等進行專業(yè)分析。其非接觸式測量方式避免了對樣品的損傷，適用于精密加工和微納結(jié)構(gòu)檢測。