從工業質檢到科研分析，從微觀缺陷檢測到宏觀表面均勻性評估，表面形貌測量的需求正呈現多元化趨勢。Sensofar S wide大視野3D光學輪廓儀憑借其“模塊化設計+多技術融合"特性，成為跨領域表面測量的通用工具。

產品細節：靈活適配多樣化需求

S wide的機身采用模塊化設計，可根據用戶需求擴展拉曼光譜儀、紅外成像模塊等附加功能，實現多技術聯用。其光學系統支持共聚焦顯微鏡與白光干涉雙模切換：共聚焦模式適合粗糙表面或高斜率樣品的測量，白光干涉模式則專注于納米級形貌分析。

設備搭載500萬像素CMOS傳感器，配合數字變焦功能，既能實現10mm×10mm區域的整體掃描，也可對局部細節進行放大觀察。樣品臺為電動平移結構，X/Y軸行程300mm×300mm（科研版）或500mm×500mm（工業版），承重范圍10kg-30kg，支持晶圓、復合材料板材、顯示面板等多樣化樣品。

性能優勢：效率與精度的雙重保障

S wide的“快速拼接算法"支持多區域測量數據的自動拼接，拼接精度0.1μm，拼接速度較傳統算法提升50%。以300mm×300mm晶圓測量為例，傳統設備需分9次掃描并手動拼接，耗時1.5小時；S wide僅需1小時即可完成精細掃描（分辨率500nm），兼顧效率與精度。

在批量檢測場景中，S wide每小時可完成5-8塊光伏玻璃的全面檢測，或3-5塊液晶面板的表面質量檢測。設備具備自動缺陷分類功能，可預設劃痕、氣泡、異物等常見缺陷的特征參數，實現缺陷的自動識別與分類統計，減少人工判斷誤差。

用材與工藝：耐用性與可靠性的雙重驗證

光學鏡頭采用鈦合金鏡筒，重量輕且剛性強，長期使用后不易形變；樣品臺導軌驅動電機選用伺服電機，配合高精度光柵尺（分辨率0.01μm），移動定位精度達±0.05μm。內部散熱系統采用分區散熱設計，連續工作2小時后機身溫度波動小于5℃，保障光學元件穩定性。

設備外殼采用冷軋鋼板，表面經過防靜電噴涂處理，能抵抗實驗室常見化學試劑的腐蝕，同時減少靜電對電子元件的影響。關鍵部件如滾珠絲杠、伺服電機等均選用工業級耐用材料，使用壽命達3萬小時以上。

參數表與型號對比

科研版側重于多功能性與數據統計，配套軟件支持粗糙度分布、缺陷密度等參數的自動計算；工業版則強化了批量檢測能力，支持與生產線對接實現自動上下料。

典型跨領域應用與操作指南

在半導體制造中，S wide用于分析晶圓表面的顆粒污染與薄膜厚度均勻性；在汽車制造領域，其大視場特性可快速檢測車身涂層的針孔、劃痕等微觀缺陷。操作流程如下：

1. 樣品固定：使用可調節夾具固定不規則形狀樣品，耐磨防滑墊防止滑動；

2. 模式選擇：粗糙樣品選共聚焦模式，光滑樣品選白光干涉模式；

3. 區域定位：通過低倍物鏡框選測量區域，軟件自動規劃掃描路徑；

4. 數據分析：生成包含3D形貌圖、截面曲線與粗糙度參數的檢測報告。

通過模塊化設計與多技術融合，S wide大視野3D光學輪廓儀正成為跨領域表面測量的“通用解決方案"，為工業質檢與科研分析提供高效、可靠的技術支持。