在光學元件制造領域，透鏡、棱鏡、反射鏡等產品的表面質量直接決定了光學系統的成像效果與性能。哪怕是微米級的面型誤差或細微劃痕，都可能導致光線折射、反射異常，影響最終使用體驗。Sensofar 新型共聚焦白光干涉光學輪廓儀 S neox，憑借對微觀表面的精準捕捉能力與適配光學元件檢測的特性，成為光學元件制造過程中質量控制的關鍵工具，為各類光學元件的表面檢測提供可靠支持。
從光學元件的檢測核心需求來看，面型誤差、表面粗糙度、曲率精度是三大關鍵指標，且均需達到納米或微米級別的檢測精度。S neox 搭載的 3D 共聚焦白光干涉技術，恰好能滿足這一嚴苛要求。其垂直分辨率達到納米級別，可清晰識別光學元件表面幾納米的高低起伏，精準測量面型誤差。以凸透鏡制造為例，在研磨拋光后，通過 S neox 對透鏡表面進行全面掃描，能獲取完整的 3D 輪廓數據，計算出透鏡的面型偏差是否符合設計標準，避免因面型不精準導致的成像模糊、畸變等問題。
針對不同類型的光學元件，S neox 的檢測范圍與適配性表現突出。對于小尺寸的微型透鏡（如手機攝像頭中的鏡頭），其最小檢測區域可精確至幾微米，能聚焦透鏡中心區域的細微結構，測量邊緣的曲率過渡是否平滑；對于大尺寸的望遠鏡反射鏡，檢測范圍可擴展至數毫米，實現對反射鏡表面的全覆蓋掃描，確保整體面型均勻。同時，設備配備的多層鍍膜精密鏡頭組，能減少光線在檢測過程中的反射與散射干擾，尤其適合透明或半透明光學元件（如石英棱鏡）的檢測，可清晰呈現元件內部是否存在氣泡、雜質，以及表面劃痕的深度與長度，避免傳統檢測方式中因光線穿透問題導致的缺陷遺漏。
在表面粗糙度檢測方面，S neox 內置的專業分析算法可精準計算 Ra（算術平均偏差）、Rq（均方根偏差）等參數，且數據重復性優異。光學元件的表面粗糙度直接影響光線的散射程度，例如激光鏡片若表面粗糙度過高，會導致激光能量損耗增加，影響激光傳輸效率。通過 S neox 對鏡片表面進行掃描，能快速獲取粗糙度數據，判斷拋光工藝是否達標，幫助制造企業優化研磨材料與拋光時間，提升產品一致性。
從用材與設備穩定性來看，S neox 也適配光學元件制造的潔凈環境需求。機身框架采用高強度鋁合金，重量輕且抗腐蝕，可適應潔凈車間定期的無塵清潔，不易因環境濕度、清潔劑殘留出現部件老化；檢測平臺選用不銹鋼材質，經過精細打磨，平整度高，能穩定承載各類光學元件，避免因平臺不平整導致的檢測誤差。同時，設備的抗振動設計可減少車間內其他加工設備（如研磨機、切割機）運行時產生的振動干擾，確保在多設備協同工作的環境下，檢測數據依然穩定可靠。
在實際操作中，S neox 針對光學元件的脆弱特性（易刮花、易破損）設計了便捷且安全的檢測流程。以石英棱鏡表面缺陷檢測為例，使用說明如下：首先，在潔凈工作臺上，將棱鏡放置在 S neox 檢測平臺的專用軟質墊片上（避免金屬臺面直接接觸棱鏡表面造成劃痕），通過微調平臺夾具輕輕固定棱鏡，確保棱鏡在檢測過程中不位移，且夾具壓力適中不導致棱鏡變形；接著，打開配套檢測軟件，在 “光學元件檢測模板" 中選擇 “棱鏡檢測" 模式，根據棱鏡的尺寸（如 10mm×10mm×5mm）設置檢測區域（通常覆蓋棱鏡的兩個光學面），并調整掃描分辨率（針對表面缺陷檢測，可選擇較高分辨率以捕捉細微劃痕）；隨后，點擊 “開始檢測"，設備電動平移臺以微米級精度帶動棱鏡移動，共聚焦光學系統同步采集表面光學信號，實時生成三維輪廓圖像，過程中軟件會自動標記疑似缺陷區域（如劃痕、氣泡）；檢測完成后，軟件自動生成檢測報告，包含面型誤差值、表面粗糙度數據、缺陷位置與尺寸，用戶可通過 15 英寸高清觸控屏放大查看缺陷細節，也可將報告導出為 PDF 格式，附在產品質檢文件中；最后，檢測結束后，用無塵布蘸取專用光學清潔劑輕輕擦拭棱鏡表面與檢測平臺，將棱鏡放入專用收納盒，關閉設備電源，完成檢測流程。
S neox 的參數配置進一步貼合光學元件檢測需求：檢測技術為 3D 共聚焦白光干涉技術，保障納米級檢測精度；檢測平臺移動精度達微米級，滿足光學元件微小區域的精準定位；軟件中的 “曲率計算" 模塊，可自動計算透鏡、反射鏡的曲率半徑與焦距，無需人工手動測量，減少人為誤差。此外，設備支持多種光學元件的檢測模板存儲，如透鏡、棱鏡、濾光片等，下次檢測同類型產品時可直接調用模板，縮短參數設置時間，提升檢測效率。
隨著光學元件向高精度、微型化方向發展（如 AR/VR 設備中的微型光學元件），對檢測設備的要求不斷提升。Sensofar S neox 共聚焦白光干涉光學輪廓儀，以精準的檢測能力、靈活的適配性與安全的操作流程，為光學元件制造企業提供全流程質量控制支持，幫助企業提升產品合格率，確保光學元件滿足各類光學系統的使用需求。
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