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白光干涉儀S neox的臺階高度測量:Sensofar S neox 3D光學輪廓儀的白光干涉模式，以非接觸方式實現臺階高度測量，具備亞納米級垂直分辨率，可快速、直觀獲取微納尺度三維形貌數據，滿足精密計量需求。
更新時間：2025-11-14
產品型號：
瀏覽量：21
白光干涉儀S neox的粗糙度分析應用:Sensofar S neox將表面粗糙度分析從一維的線分析推進到三維的面分析，提供了更豐富、更具統計意義的表面信息，其非接觸的特點也使其適用于柔軟、易劃傷表面的檢測，為表面形貌的量化評價提供了現代化的工具。
更新時間：2025-11-14產品型號：瀏覽量：25白光干涉儀S neox的校準與準確性：Sensofar S neox 3D光學輪廓儀通過系統化校準流程，確保XY尺寸、Z軸高度及干涉參考平等精確可溯，為科研與精密制造提供可靠、可復現的納米級測量數據。
更新時間：2025-11-14產品型號：瀏覽量：20白光干涉儀S neox：從二維到三維的視野，突破二維觀察局限，通過三維形貌測量精準量化表面高度、粗糙度及輪廓尺寸，實現從“看”到“量”的跨越，為表面分析提供客觀數據支撐。
更新時間：2025-11-12產品型號：瀏覽量：22白光干涉儀S neox的高反射表面測量；Sensofar S neox通過可調光源、偏振附件與優化算法，有效抑制高反光表面過曝，實現對拋光金屬、硅片等樣品的高質量三維測量。
更新時間：2025-11-12產品型號：瀏覽量：18白光干涉儀S neox在微納技術中的角色：Sensofar S neox以三維、高分辨率、非接觸測量能力，精準表征MEMS、微流道及光子晶體等微納結構的形貌與尺寸，助力微納技術的研發與質量控制。
更新時間：2025-11-12產品型號：瀏覽量：27