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Sensofar干涉技術：從原理到場景應用 干涉技術是 Sensofar S neox 實現高精度測量的核心支撐，包含白光干涉與相位移干涉兩種模式，結合創新設計適配多樣測量需求。
更新時間：2025-10-23
產品型號：S neox
瀏覽量：91
Sensofar科研版：納米材料研究的適配設計 針對科研場景需求，Sensofar S neox 推出科研定制款，在基礎款之上強化了參數精度、功能擴展性與數據追溯能力。
更新時間：2025-10-23產品型號：S neox瀏覽量：84Sensofar操作指南：從入門到批量檢測 Sensofar S neox 通過軟硬件協同設計，降低了精密測量的操作門檻，同時滿足專業用戶的深度需求。
更新時間：2025-10-23產品型號：S neox瀏覽量：100
Sensofar：用材解析：穩定測量的基礎保障 Sensofar S neox 的性能穩定性，源于核心部件的優質選材與精密設計。從光學元件到機械結構，每類材料均針對高精度測量需求定制。
更新時間：2025-10-23產品型號：S neox瀏覽量：90
一文讀懂Sensofar：多技術融合測量邏輯 Sensofar S neox 作為新型 3D 共聚焦白光干涉光學輪廓儀，核心優勢在于多測量技術的集成設計。
更新時間：2025-10-23產品型號：S neox瀏覽量：91
Sensofar三維測量輪廓儀雙技術引擎解析? Sensofar LIN系列是面向工業與實驗室環境設計的經濟型三維光學輪廓儀。該系列儀器將共聚焦成像和白光垂直掃描干涉（VSI）兩種技術集成于一體，提供了在納米至毫米量程范圍內進行非接觸式三維形貌測量的解決方案。其設計注重操作的便捷性和測量的穩定性，適用于質量控制、研發分析等多種場景。
更新時間：2025-10-23產品型號：LIN瀏覽量：121