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Sensofar三維共聚焦白光干涉儀 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學測量技術，適用于微納米級表面形貌分析，可滿足半導體、精密制造、材料科學等領域的高精度檢測需求。
更新時間：2025-10-21
產品型號：S neox
瀏覽量：142
Sensofar三維輪廓儀微觀世界多模態測量利器 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學測量技術，適用于微納米級表面形貌分析，可滿足半導體、精密制造、材料科學等領域的高精度檢測需求。
更新時間：2025-10-21產品型號：S neox瀏覽量：165Sensofar：專注工業，高效檢測 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學測量技術，適用于微納米級表面形貌分析，可滿足半導體、精密制造、材料科學等領域的高精度檢測需求。
更新時間：2025-10-21產品型號：S neox瀏覽量：156
Sensofar 輪廓儀：微觀檢測好幫手 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學測量技術，適用于微納米級表面形貌分析，可滿足半導體、精密制造、材料科學等領域的高精度檢測需求。
更新時間：2025-10-21產品型號：S neox瀏覽量：147
Sensofar白光干涉儀：高分辨表面形貌測量 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學測量技術，適用于微納米級表面形貌分析，可滿足半導體、精密制造、材料科學等領域的高精度檢測需求。
更新時間：2025-10-21產品型號：S neox瀏覽量：226Sensofar白光干涉儀高分辨表面分析解決方案 Sensofar白光干涉儀采用優良的光學干涉技術，為微納米級表面形貌測量提供可靠解決方案，廣泛應用于半導體、精密制造和材料科學研究領域。
更新時間：2025-10-21產品型號：S neox瀏覽量：225