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澤攸ZEM20臺(tái)式掃描電子顯微鏡操作簡(jiǎn)便，僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)光闌。

ZEM20臺(tái)式掃描電子顯微鏡操作簡(jiǎn)便，僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)光闌。

ZEM 20Pro單晶燈絲臺(tái)式掃描電鏡采用單晶燈絲，最高放大36萬(wàn)倍，分辨率可達(dá)3nm。自動(dòng)亮度對(duì)比度、自動(dòng)聚焦、大圖拼接。超大樣品倉(cāng)可集成多種原位拓展平臺(tái)，滿足不同實(shí)驗(yàn)及檢測(cè)需求。

PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測(cè)量系統(tǒng)，是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量，并可在電學(xué)測(cè)量的同時(shí)，動(dòng)態(tài)、高分辨地對(duì)樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價(jià)態(tài)進(jìn)行綜合表征，大大地?cái)U(kuò)展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。

澤攸臺(tái)式掃描電鏡文物修復(fù)的微觀損傷評(píng)估儀文物修復(fù)需平衡“保護(hù)”與“修復(fù)”，微觀損傷評(píng)估是關(guān)鍵。青銅器的銹層結(jié)構(gòu)、書(shū)畫(huà)的顏料老化程度、陶瓷的開(kāi)片痕跡，需高倍率觀測(cè)才能判斷處理方式。澤攸臺(tái)式掃描電鏡為文物修復(fù)提供了更科學(xué)的微觀評(píng)估依據(jù)。

澤攸臺(tái)式掃描電鏡新能源的微觀性能優(yōu)化儀新能源技術(shù)突破依賴于材料微觀結(jié)構(gòu)的優(yōu)化。鋰電池電極的SEI膜生長(zhǎng)、光伏薄膜的晶粒排列、氫燃料電池的催化劑分散狀態(tài)，均需微觀觀測(cè)指導(dǎo)工藝改進(jìn)。澤攸臺(tái)式掃描電鏡為新能源領(lǐng)域提供了動(dòng)態(tài)、實(shí)時(shí)的微觀性能優(yōu)化工具。