當前位置：
相關文章
上一個：
返回列表
服務熱線：
公司地址：
公司郵箱：
服務熱線
17701039158
產品中心
PRODUCTS CNTER
產品簡介
探索Sensofar光學輪廓技術Sensofar Metrology作為光學測量領域的參與者，其S neox和LIN系列三維光學輪廓儀集成了多種光學測量技術，包括共聚焦、白光干涉（VSI）和相移干涉（PSI），為微觀表面的三維形貌測量提供了多樣的解決方案。
產品分類
Sensofar Metrology作為光學測量領域的參與者，其S neox和LIN系列三維光學輪廓儀集成了多種光學測量技術，包括共聚焦、白光干涉（VSI）和相移干涉（PSI），為微觀表面的三維形貌測量提供了多樣的解決方案。
S neox系列是平臺型產品，其核心特點在于一臺儀器上融合了多種測量模式。用戶可以根據樣品的表面特性（如粗糙度、斜率、反射率）自由選擇最合適的測量技術。對于陡峭邊緣和粗糙表面，共聚焦模式表現出色；而對于光滑表面進行納米級測量時，白光干涉模式則能提供所需的數據。這種靈活性使S neox能夠應對復雜的測量挑戰。
LIN系列則更側重于經濟性與實用性，主要提供共聚焦和白光干涉兩種基本模式，在保證核心測量性能的同時，簡化了系統配置，降低了用戶的使用門檻。
在制造用材上，Sensofar儀器通常采用穩固的機械結構和熱穩定性好的材料，以抑制外界振動和溫度漂移對測量結果的影響。其核心光學部件，如物鏡和光源，均經過專門設計，以確保成像質量和測量信號的穩定性。
簡要技術參數對比（示例）：
| 型號系列 | 主要技術 | 定位特點 | 物鏡支持 |
|---|---|---|---|
| S neox | 共聚焦、白光干涉(VSI)、相移干涉(PSI) | 多技術融合平臺 | 廣泛，支持自動切換 |
| LIN | 共聚焦、白光干涉(VSI) | 經濟實用型 | 標準配置 |
這些儀器廣泛應用于半導體、光學、材料科學、精密制造等行業，用于測量表面粗糙度、臺階高度、體積、磨損等關鍵參數。操作上，它們通常配備直觀的軟件界面，引導用戶完成從圖像采集、數據處理到生成分析報告的全過程。