材料科學研究中，深入了解材料表面的微觀形貌、粗糙度與結構特征，對探究材料性能至關重要。布魯克三維光學輪廓儀 ContourX-100 憑借非接觸式測量優勢與精細的數據分析能力，成為材料表面研究的實用設備。
一、產品細節
ContourX-100 機身采用模塊化設計，主要由光學測量單元、樣品臺與控制終端組成，各模塊連接穩固，便于日常維護。光學測量單元外殼采用鋁合金精密壓鑄，重量輕且剛性好，內部光學元件通過防震支架固定，減少移動設備時的震動影響。
樣品臺采用大理石臺面，具有低導熱性與高穩定性，可降低環境溫度變化對樣品放置的影響。臺面配備可調節夾具，能固定尺寸在 5mm - 100mm 范圍內的材料樣品，夾具接觸面覆蓋硅膠墊，避免劃傷樣品表面。控制終端內置高性能處理器，支持快速數據運算，可在測量完成后 10 秒內生成三維圖像。
二、產品性能
該設備采用共聚焦與白光干涉復合測量模式，可根據材料特性切換測量方式。對于粗糙金屬表面，選用白光干涉模式能獲取更豐富的微觀結構數據；對于透明薄膜材料，共聚焦模式可清晰呈現層間結構。
垂直測量分辨率達 0.1nm，能捕捉材料表面納米級的起伏變化，如金屬腐蝕坑的深度、薄膜表面的褶皺高度等。水平測量范圍最大可達 10mm，可兼顧微觀局部與宏觀整體的表面分析。設備支持多種粗糙度參數計算（如 Ra、Rz、Rq），計算結果與標準樣板的偏差在可接受范圍內，滿足材料研究的精度需求。
三、用材與參數
核心光學部件選用高品質材料，干涉儀分光鏡采用石英材質，具有良好的透光性與化學穩定性，確保光信號傳輸穩定。物鏡組采用多片式鏡片組合，通過精密光學設計矯正像差，提升成像質量。樣品臺導軌采用不銹鋼材質，表面經過精密研磨，滑動順暢且磨損小，使用壽命長。
以下為 ContourX-100 材料研究場景主要參數表：
四、用途與使用說明
在材料研究中，ContourX-100 可用于金屬材料磨損表面分析、陶瓷材料燒結后的表面平整度檢測、高分子薄膜的厚度均勻性評估等。通過三維形貌數據，幫助研究人員分析材料制備工藝與表面性能的關聯。
使用時，先開機預熱 30 分鐘，確保光學系統穩定。將材料樣品固定在樣品臺上，根據樣品尺寸與表面特征選擇合適的物鏡。在軟件中設置測量參數，如掃描步長（可選 0.1μm - 1μm）、測量區域（最大 10mm×10mm），啟動測量程序。設備將自動完成掃描并生成三維圖像，可通過軟件進行粗糙度計算、截面分析等操作，數據可導出至 Excel 或專業繪圖軟件進一步處理。
布魯克 ContourX-100 以靈活的測量模式與可靠的數據分析能力，為材料表面研究提供了全面支持，助力科研人員獲取精準的實驗數據。
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