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解密布魯克 ContourX-100：參數(shù)與用材細(xì)節(jié) 布魯克三維光學(xué)輪廓儀 ContourX-100 作為一款用于表面形貌測(cè)量的設(shè)備，在工業(yè)檢測(cè)、材料研發(fā)等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛，其參數(shù)配置與用材選擇是保障測(cè)量效果和設(shè)備穩(wěn)定性的重要基礎(chǔ)。

布魯克三維光學(xué)輪廓儀精準(zhǔn)匹配需求 在半導(dǎo)體領(lǐng)域，該設(shè)備用于測(cè)量硅晶圓薄膜厚度、光刻膠臺(tái)階高度及CMP后表面平整度，為工藝參數(shù)優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支持。

布魯克三維光學(xué)輪廓儀高效測(cè)量的實(shí)踐指南 設(shè)備支持手動(dòng)與半自動(dòng)雙模式操作。手動(dòng)模式下，操作人員通過微調(diào)旋鈕快速調(diào)整樣品位置與焦距，適配少量多批次樣品測(cè)量需求。

布魯克三維光學(xué)輪廓儀多場(chǎng)景適配解決方案 該設(shè)備以靈活性與擴(kuò)展性著稱，適用于研發(fā)實(shí)驗(yàn)室與工業(yè)生產(chǎn)線。其Z軸分辨率與放大倍率無關(guān)，確保不同視野下結(jié)果一致性。

布魯克光學(xué)輪廓儀三維測(cè)量新維度 ContourX-200是布魯克推出的臺(tái)式三維光學(xué)輪廓儀，采用白光干涉（WLI）技術(shù)實(shí)現(xiàn)非接觸式表面形貌測(cè)量。

布魯克白光干涉儀輪廓儀三維測(cè)量新維度 ContourX-200是布魯克推出的臺(tái)式三維光學(xué)輪廓儀，采用白光干涉（WLI）技術(shù)實(shí)現(xiàn)非接觸式表面形貌測(cè)量。其核心配置包括5百萬像素?cái)z像頭與電動(dòng)XY載物臺(tái)，支持2D/3D高分辨率測(cè)量。